Occasion SEMILAB SSM2000 #293661704 à vendre en France

SEMILAB SSM2000 est un équipement d'essai et de métrologie avancé conçu pour la recherche et le développement de dispositifs semi-conducteurs. Il offre des capacités de détection de waferSize automatisées haut de gamme, de métrologie et de détection de défauts. SEMILAB SSM 2000 est capable de mesures électriques et optiques sur des échantillons métalliques/semi-conducteurs. Le système offre une flexibilité et une large gamme de fonctionnalités pour un large éventail de besoins des clients. SSM2000 utilise une architecture d'automatisation de test waferSize supérieure pour garantir la précision et la fiabilité. Ses fonctions d'automatisation avancées permettent à l'unité de sélectionner automatiquement la meilleure recette de test, d'ajuster les paramètres de test et de sélectionner une combinaison de configurations de mesure pour une performance optimale. De plus, la machine comprend une unité de balayage moteur linéaire XYZ (MSU) très précise pour les tests sans contact. SSM 2000 offre également des capacités de métrologie optique avec un outil de focalisation automatisé pour des mesures précises à haute résolution. Les fonctions d'imagerie optique et de caméra intégrées de l'actif permettent une détection rapide et précise des défauts. SEMILAB SSM2000 possède un modèle intégré d'interrogation par fibre optique qui peut être utilisé pour mesurer les régions dopées et non dopées. SEMILAB SSM 2000 est conçu pour une flexibilité et une évolutivité maximales avec des modules évolutifs et des logiciels personnalisables pour répondre à un large éventail de besoins des clients. L'équipement comprend une variété d'outils d'acquisition de données tels que l'analyse statistique définie par l'utilisateur, les processus de déclaration des données et l'analyse des tendances. Il comprend également une interface utilisateur intuitive, des logiciels personnalisables et une large gamme d'autres fonctionnalités. Dans l'ensemble, SSM2000 offre les performances et la précision les plus élevées pour garantir des résultats d'essais et de métrologie extrêmement fiables pour la recherche et le développement de dispositifs semi-conducteurs. Ce système fournit aux utilisateurs une plate-forme efficace et fiable pour les tests de waferSize automatisés, la métrologie et la détection des défauts.