Occasion SEMILAB SSM2000 #293665614 à vendre en France
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ID: 293665614
Style Vintage: 2009
Spreading Resistance Profiling (SRP) system
2009 vintage.
SEMILAB SSM2000 est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe conçu pour la caractérisation précise des matériaux et dispositifs semi-conducteurs. Ce système avancé offre des capacités complètes pour mesurer des paramètres clés tels que la concentration de dopants, la mobilité des porteurs, l'analyse de contraintes/contraintes et la détection de défauts sur les plaquettes avec une grande précision et fiabilité. Avec sa technologie de pointe et ses caractéristiques innovantes, SEMILAB SSM 2000 est un outil indispensable pour la fabrication de semi-conducteurs et les applications de recherche. Une des caractéristiques clés de SSM2000 est ses capacités de mesure très sensibles. L'unité utilise des techniques avancées telles que les mesures de tension de capacité (CV) et de tension de courant (IV) pour déterminer avec précision les propriétés électriques des matériaux semi-conducteurs. En analysant les caractéristiques CV et IV de la plaquette, la machine peut fournir des informations précieuses sur le profil de dopage, la concentration des porteurs et la mobilité du matériau semi-conducteur, qui sont des paramètres cruciaux pour optimiser les performances du dispositif. Outre les mesures électriques, le SSM 2000 est équipé de capacités d'analyse optique et structurelle avancées. L'outil peut effectuer des mesures de photoluminescence (PL) et de spectroscopie Raman pour analyser les propriétés optiques de la plaquette, y compris l'énergie du bandgap, la densité des défauts et la qualité des cristaux. En combinant ces mesures optiques avec des techniques d'analyse structurale telles que la microscopie électronique à balayage (SEM) et la microscopie à force atomique (AFM), l'actif peut fournir une caractérisation complète des propriétés physiques et chimiques du matériau. SEMILAB SSM2000 intègre également des capacités innovantes d'analyse de contraintes/contraintes pour évaluer les propriétés mécaniques de la plaquette. En appliquant une contrainte mécanique contrôlée à l'échantillon et en mesurant la contrainte résultante à l'aide de techniques telles que la diffraction des rayons X ou la spectroscopie Raman, le modèle peut quantifier le module élastique du matériau, la contrainte résiduelle et la distribution des contraintes. Ces informations sont essentielles pour optimiser la fiabilité et les performances des dispositifs semi-conducteurs, notamment dans les applications où la contrainte mécanique joue un rôle critique. Une autre caractéristique clé de SEMILAB SSM 2000 est sa capacité de détection des défauts. L'équipement peut effectuer des essais non destructifs en utilisant des techniques telles que la thermographie infrarouge, les ultrasons et la microscopie optique pour identifier et localiser les défauts dans la plaquette, y compris les fissures, les vides et les anomalies induites par le processus. En cartographiant précisément les défauts sur la surface de la plaquette et en les corrélant avec des mesures électriques et optiques, le système peut aider les fabricants à identifier les problèmes de processus et à améliorer les rendements dans la production de semi-conducteurs. Dans l'ensemble, SSM2000 est une unité polyvalente et puissante d'essai et de métrologie de plaquettes qui offre des capacités complètes pour caractériser les matériaux et les dispositifs semi-conducteurs. Grâce à ses techniques de mesure avancées, ses capteurs sensibles et ses fonctions d'analyse innovantes, la machine fournit des informations précieuses sur les propriétés électriques, optiques, structurelles et mécaniques des plaquettes, aidant les fabricants et les chercheurs à obtenir des performances, une fiabilité et un rendement accrus dans les applications de semi-conducteurs.
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