Occasion SEMV TASV-01020-VER1 #9406833 à vendre en France

SEMV TASV-01020-VER1 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie. Il s'agit d'un système autonome entièrement automatisé, composé d'un étage, d'une optique et d'un logiciel permettant de mesurer diverses caractéristiques sur une plaquette de silicium, y compris l'épaisseur, la réflectivité, la planéité de surface, le matériau et les propriétés électriques. L'unité offre des capacités d'imagerie avancées telles que la microscopie haute résolution et l'imagerie SEM, ainsi qu'un certain nombre d'autres fonctionnalités et logiciels innovants. L'étage de TASV-01020-VER1 supporte une gamme de tailles et de matériaux de plaquettes. Il peut être équipé d'un étage de levage, d'un étage de précision XY/R θ et d'un étage de rotation pour mesurer le rapport d'aspect, la planéité et la position x-y. Un choix de lentilles objectives est disponible et divers détecteurs peuvent être connectés pour détecter les signaux de la plaquette et les interpréter pour analyse. La machine optique est conçue pour fournir une imagerie et des mesures de haute précision. Une caméra CCD permet la capture d'images fixes et de vidéos, permettant à l'utilisateur d'analyser l'échantillon en détail. L'outil est également livré avec un large éventail d'applications logicielles, ce qui facilite l'interprétation des données et améliore l'exactitude des résultats. Le logiciel contient diverses fonctionnalités pour gérer et analyser les données de l'échantillon. Il comprend la détection d'erreurs, l'analyse des formes d'onde, la reconnaissance des motifs et les analyses statistiques. Le logiciel permet également de surveiller l'actif de la plaquette, de visualiser les tendances et de prédire les performances futures. SEMV TASV-01020-VER1 est un modèle d'essai et de métrologie de plaquettes rentable qui garantit une analyse précise et efficace des données. Il est idéal pour la recherche et les applications industrielles, permettant à l'utilisateur d'obtenir rapidement des données fiables dans différentes tailles d'échantillons et microstructures. Avec ses fonctionnalités avancées, ses performances flexibles et ses logiciels faciles à utiliser, TASV-01020-VER1 est un choix puissant pour tous les besoins de métrologie.