Occasion SENSYS SMS-2000 #144008 à vendre en France

SENSYS SMS-2000
ID: 144008
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 2000
Scatterometer, 8", 2000 vintage.
SENSYS SMS-2000 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour des applications semi-conductrices exigeantes. Il fournit des planalités de broche et planétaires inégalées, ainsi que des capacités d'analyse et de détection de bord de tranche supérieures. Il est construit avec un système entièrement automatisé de manutention et de transfert de plaquettes, réduisant les opérations à forte intensité de main-d'œuvre associées aux essais manuels de plaquettes et à la métrologie. L'unité se compose d'une machine de transfert de Wafer (WTS) physique et non destructive automatisée, de deux boîtiers de contrôle et de deux stations manuelles de chargement et de déchargement. Le WTS fournit un contrôle de mouvement précis, permettant un transfert précis et répétable des substrats de test. Les trois points de contrôle de niveau de suivi mesurent les paramètres de fente et de broche, ce qui permet une mesure de haute précision de la plaquette. Les modules d'analyse planaire et de détection de bord de tranche sont intégrés au WTS pour mesurer la planéité globale de la tranche et identifier les dommages de bord ou les particules étrangères. SMS-2000 prend en charge diverses applications de métrologie, d'imagerie et d'essai, y compris la métrologie 3D sans contact, la métrologie des dimensions critiques (CD) et l'inspection des défauts de métrologie. Il peut évaluer divers types de défauts et tailles, de sorte qu'il peut être utilisé pour analyser des IC avec des circuits internes haute densité et plusieurs applications de métrologie. De plus, en raison de son taux de change plus rapide, il est adapté à la production en grand volume de dispositifs microélectroniques avancés. L'outil dispose d'un atout de mesure haute résolution pour la caractérisation précise des dispositifs à échelle nanométrique. Il est équipé d'une optique améliorée et d'un faisceau laser de forte puissance, permettant une imagerie de haute précision des images limitées par diffraction des structures à couches minces semi-conductrices. En outre, il prend en charge l'analyse multifonctions propriétaire, qui permet une mesure plus rapide que l'analyse monofonctionnelle traditionnelle. En plus de ses capacités techniques, SENSYS SMS-2000 offre une interface logicielle robuste pour une intégration facile du modèle dans des suites logicielles de niveau supérieur. Ses menus conviviaux permettent un accès rapide et intuitif aux paramètres de l'équipement et à l'analyse des données. De plus, le système peut être configuré pour créer une gamme de rapports, y compris des résultats d'essais complets, des statistiques sommaires et des données de comparaison. Dans l'ensemble, SMS-2000 est une unité d'essai et de métrologie exceptionnelle. Il est facile à mettre en place, offre des résultats précis et une fiabilité sans précédent. En conséquence, c'est le choix idéal pour des applications semi-conductrices exigeantes.
Il n'y a pas encore de critiques