Occasion SHIBAURA AutoEL-IV #293616278 à vendre en France

SHIBAURA AutoEL-IV est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes de pointe conçu pour répondre aux exigences exigeantes de l'industrie des semi-conducteurs. Le système se compose d'une gamme complète de technologies et de processus qui permettent une analyse et des essais exhaustifs de divers substrats de wafer. Au cœur d'AutoEL-IV se trouve son unité d'imagerie CCD intégrée. Ceci utilise une combinaison unique de logiciels propriétaires de capture, de traitement et d'analyse d'images afin de recueillir et d'analyser des données relatives à la défectmétrie, au comptage des particules et aux mesures d'uniformité. Grâce à des systèmes de lentilles à fort grossissement et des algorithmes d'analyse sophistiqués, la machine offre une couverture complète de toutes les surfaces des plaquettes, ainsi qu'une gamme complète de capacités de traitement d'image manuelles et automatisées. En plus de ses capacités d'imagerie, SHIBAURA AutoEL-IV propose également une suite de métrologie avancée. Cela comprend une variété de capteurs optiques et mécaniques, ainsi que des dispositifs de mesure sans contact pour la détection précise des caractéristiques physiques à l'échelle micro et nano. Combiné à des instruments d'imagerie haute vitesse, cela permet une collecte et une analyse de données extrêmement précises pour un large éventail d'applications. AutoEL-IV fournit également une plate-forme pour le scribing et l'amincissement des plaquettes. Ceci est réalisé par un équipement spécialisé qui peut être utilisé pour dégraisser et les plaquettes minces en utilisant une combinaison de laser, de chaleur, et des techniques d'excision mécanique. Cela garantit que les plaquettes sont préparées de manière à répondre à toutes les spécifications requises et peuvent être analysées avec précision par les différents instruments de métrologie et d'imagerie de l'outil. Enfin, SHIBAURA AutoEL-IV est conçu pour être très configurable pour répondre aux besoins d'une application donnée. Grâce à sa conception modulaire, les utilisateurs peuvent facilement personnaliser l'actif pour y intégrer diverses technologies supplémentaires telles que l'inspection visuelle automatisée, les mesures d'épaisseur et de planéité du film, la classification des défauts et l'analyse granulométrique. Tout-en-tout, AutoEL-IV est un modèle de test et de métrologie de plaquettes haute performance qui offre aux utilisateurs une plate-forme extrêmement puissante et complète pour l'analyse et le test de plaquettes semi-conductrices. Avec ses systèmes avancés d'imagerie intégrée et de métrologie, associés à une gamme d'options de personnalisation supplémentaires, l'équipement est conçu pour fournir aux utilisateurs les données précises nécessaires pour assurer le succès de leurs opérations de fabrication de semi-conducteurs.