Occasion SIGNATONE / LUCAS LABS 302 #9397382 à vendre en France

SIGNATONE / LUCAS LABS 302
ID: 9397382
Four point probe.
SIGNATONE/LUCAS LABS 302 Wafer Testing and Metrology Equipment fournit une analyse précise des wafers semi-conducteurs grâce aux performances, aux essais et au balayage métrologique. En utilisant le balayage laser sans contact, le système SIGNATONE 302 évalue les plaquettes rapidement et efficacement dans la production de dispositifs et de matériaux semi-conducteurs. LUCAS LABS 302 Wafer Testing and Metrology Unit comprend un contrôleur, une tête de balayage et une caméra pour fournir une rétroaction en temps réel des résultats. Cela permet un balayage rapide des structures à haut rapport d'aspect avec une résolution uniforme, fournissant des mesures précises et fiables pour les caractéristiques d'échelle nanométrique. Le laser haute puissance de la machine scanne avec précision les dimensions des panneaux, les surfaces préconditionnées et les paramètres électriques, ce qui le rend idéal pour l'inspection des pores et les applications instantanées de métrologie en ligne. Les données recueillies par 302 sont analysées à l'aide d'algorithmes avancés et les résultats sont affichés en temps réel. Les images haute résolution et l'analyse de surface sont utilisées pour mesurer la précision positionnelle et dimensionnelle, permettant une évaluation rapide et efficace des plaquettes. Une fois l'évaluation terminée, les images peuvent être sauvegardées et archivées pour d'autres comparaisons et analyses. SIGNATONE/LUCAS LABS 302 peut également être utilisé pour détecter et localiser des particules, des contaminants microbiologiques et chimiques et de petits défauts sur des plaquettes de silicium. Avec sa mesure de surface non linéaire et sa détection de défauts de précision, l'outil est capable de détecter même les plus petits défauts. Les algorithmes de reconstruction 3D automatisés de l'actif fournissent des informations détaillées sur les défauts tels que les contours, les surfaces et les textures. SIGNATONE 302 Wafer Testing and Metrology Model offre fiabilité et précision dans les essais, ce qui permet d'améliorer les rendements et les économies pour les clients. Les vitesses de balayage et d'imagerie rapides de l'appareil sont facilitées par une technologie de pointe, comme l'utilisation de plusieurs longueurs d'onde laser, de fibres optiques et de logiciels personnalisables. En outre, le système est conçu pour maximiser l'efficacité de la production, ce qui le rend idéal pour les essais et les besoins de métrologie.
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