Occasion SOUND TECHNOLOGY 1710A #9192601 à vendre en France

TECHNOLOGIE DU SON 1710A L'équipement de test et de métrologie des plaquettes est une solution avancée et puissante pour le contrôle des processus et la métrologie des plaquettes semi-conductrices. Le système combine un codeur optique à haut débit et une unité de traitement graphique de pointe (GPU) pour fournir une collecte de données, une analyse et des aperçus précis et complets. 1710A fournit des mesures très précises et répétables de paramètres tels que les dimensions critiques, la linéarité, la vitesse de débit, l'épaisseur de la plaquette et d'autres caractéristiques pertinentes de la plaquette. L'unité utilise une résolution angulaire de 2/3 nm pour une précision améliorée. Il dispose d'un contrôle de mouvement grâce à la technologie optique de codage de position absolue, permettant une reconnaissance instantanée de la position de la plaquette dans la machine et éliminant le besoin de réglage manuel long. La conception hautement configurable de l'outil permet de l'adapter aux besoins spécifiques du client. Il est équipé d'une interface utilisateur graphique intuitive qui simplifie le fonctionnement des actifs et augmente son efficacité. Les outils d'analyse statistique intégrés fournissent des analyses complètes de la plaquette et permettent un contrôle intelligent des processus. SOUND TECHNOLOGY 1710A dispose également d'un modèle sophistiqué de cartographie et d'imagerie de plaquettes qui affiche la position exacte de chaque caractéristique sur la plaquette dans les formats 2D et 3D. L'équipement de cartographie des plaquettes supporte le microscope, la caméra et l'éclairage laser, permettant une mesure de topographie de surface très précise. De plus, le système de cartographie des plaquettes peut être configuré pour détecter de grandes variations de propriétés optiques ou électriques sur la surface d'une plaquette. La conception modulaire de l'unité le rend flexible et peut être agrandi pour s'adapter à des applications plus grandes et plus complexes. Il dispose également d'un ensemble intégré d'outils de gestion de données adaptables, permettant aux utilisateurs de déplacer et de gérer facilement de grandes quantités de données. 1710A Wafer Testing and Metrology machine est un outil puissant, précis et complet pour le contrôle des processus et la métrologie des wafers semi-conducteurs. Il est capable de fournir des mesures très précises de la géométrie et de la topographie des plaquettes, permettant une analyse précise et répétable et le contrôle des processus. Sa conception modulaire, son interface utilisateur intuitive, ses outils d'analyse statistique intégrés et ses outils de gestion des données se combinent pour en faire une solution complète et rentable pour les essais de plaquettes et la métrologie.