Occasion SSM 150 #9101487 à vendre en France

SSM 150 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour des mesures précises de structures complexes sur des plaquettes semi-conductrices. Le système comprend tous les composants nécessaires à l'essai et à la métrologie, y compris le levage d'échantillons, le microscope optique, la photomasque, la lampe à microscope, la phase de mouvement linéaire de l'optique, l'unité d'acquisition d'images, le dispositif de centrage, l'affichage vidéo, la machine de suivi 3D et l'outil de réglage de l'inclinaison. Le levage des échantillons est conçu pour maintenir les échantillons de plaquettes jusqu'à 150 mm de diamètre, tandis que le microscope optique utilise un atout de lentille haute résolution pour assurer la clarté et la précision lors de l'analyse des échantillons. Le photomasque est utilisé pour analyser avec précision les zones complexes de l'échantillon de plaquette. La lampe au microscope illumine l'échantillon afin que les motifs et les caractéristiques puissent être vus avec précision. L'étage de mouvement linéaire optique déplace la plate-forme de micro-positionnement vers l'avant et vers l'arrière, ce qui permet de régler l'échantillon à la bonne position pour l'analyse. Le modèle d'acquisition d'image capture une image haute résolution de l'échantillon, qui est ensuite affichée sur le moniteur vidéo. Le dispositif de centrage permet de s'assurer que l'échantillon est bien aligné et dans la meilleure position pour l'analyse. L'équipement de suivi 3D enregistre l'orientation de l'échantillon à un endroit donné et le système de réglage de l'inclinaison permet à l'utilisateur de basculer l'échantillon dans n'importe quelle direction pour une meilleure clarté d'image. Toutes ces caractéristiques se combinent pour créer un outil complet de métrologie pour l'analyse en profondeur des structures complexes trouvées sur les plaquettes semi-conductrices. L'unité offre la possibilité de capturer, analyser et stocker des centaines d'images microscopiques d'échantillons de plaquettes à des résolutions extrêmement élevées. Les données obtenues à partir de ces images peuvent être utilisées à diverses fins, du contrôle de qualité à l'optimisation de conception. 150 machine fournit un outil précis et fiable pour analyser les plaquettes semi-conductrices à l'échelle microscopique et macroscopique. Sa conception intuitive et sa gamme polyvalente de fonctionnalités font du SSM 150 un outil précieux pour tout laboratoire de test de plaquettes ou de métrologie.