Occasion SSM 495 CV #9113629 à vendre en France

SSM 495 CV est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir des mesures précises pour la structure des circuits intégrés (IC) et les paramètres des dispositifs. Ce système offre des tests de wafer précis et efficaces et la métrologie pour soutenir le développement de processus et le contrôle de la production. 495 CV est constitué d'un microscope optique haute résolution et d'un microscope électronique à balayage. L'unité contient deux unités de fonctionnement indépendantes, la première étant une unité de mesure et de commande, et la seconde étant l'unité de préparation des plaquettes. L'unité de mesure et de contrôle permet d'évaluer les conditions de surface de la plaquette, y compris la structure d'IC, les paramètres du dispositif et l'analyse des défauts, pour les essais dynamiques et statiques. L'unité de préparation des plaquettes supporte la préparation de surface de pré-mesure et les tâches de post-traitement, telles que le nettoyage des pulvérisateurs. La machine dispose d'un logiciel puissant pour contrôler le microscope, fournissant une gamme d'outils qui permettent des mesures précises et une bibliothèque d'algorithmes pour l'analyse des paramètres de l'appareil. Un puissant paquet d'analyse d'image est également inclus dans le logiciel, permettant d'améliorer la manipulation d'image et le traitement d'image pour le test de l'appareil de wafer et l'analyse des performances de l'appareil. L'outil offre une gamme d'outils de métrologie comprenant la capacité variable en tension, la microscopie à force atomique (AFM), l'imagerie de conductivité, les photomasques multi-faisceaux et la profilométrie optique in-asset. Le modèle offre également l'imagerie spectrale pour l'imagerie micro-CT, permettant l'imagerie 3D des structures internes des échantillons. SSM 495 CV est équipé d'une interface utilisateur avancée qui est facile à naviguer. L'interface utilisateur est conçue pour offrir une expérience utilisateur améliorée et permettre un fonctionnement automatique. Grâce à une variété d'outils de métrologie avancés, l'équipement peut fournir des mesures précises et précises pour l'analyse de la structure d'IC et des paramètres de l'appareil. En outre, le système fournit un large éventail de fonctionnalités et d'outils qui soutiennent la préparation de la surface des plaquettes et les tâches de post-traitement.