Occasion SSM 495 #293763043 à vendre en France

ID: 293763043
Style Vintage: 2009
HG-CV Measurement system, 8" 2009 vintage.
SSM 495 Wafer Testing and Metrology Equipment de Scantron Semiconductor Solutions est une plate-forme de métrologie avancée conçue pour faciliter le contrôle de la qualité des processus de fabrication des wafers. Ce système hautement programmable offre la flexibilité nécessaire pour mesurer rapidement et précisément les paramètres de la plaquette, y compris l'épaisseur, la planéité, le profil, la résistivité, la profondeur de gravure et la dimension critique. 495 unité intègre plusieurs modules de métrologie tels qu'une station de cartographie des plaquettes, des électrodes de résistivité et un capteur IC opto-drop pour fournir des données de métrologie complètes sur les plaquettes. La station de cartographie est capable de mesurer la topographie 3D, avec la capacité de détecter des hauteurs de pas, 50 points de test/mm2, 12000 points de test/plaquette, et la résolution en hauteur supérieure à 1 Å. En même temps, il est équipé des derniers capteurs de résistivité pour mesurer la résistance de contact et d'isolement avec une excellente précision et précision. Le SSM 495 intègre également un capteur opto-drop de pointe pour mesurer les dimensions critiques des caractéristiques gravées, des fentes en silicium et des largeurs de rainures. En outre, 495 a la capacité d'enregistrer des images de coupe très détaillées de plaquettes pour une analyse plus approfondie. Ces images sont prises à l'aide d'un microscope optique numérique (DOM) intégré à la machine. L'outil SSM 495 Wafer Testing and Metrology est conçu pour gérer les tâches les plus exigeantes de développement de processus et de métrologie de production. Son débit rapide et sa capacité d'analyse incroyablement précise en font un outil puissant pour le contrôle des processus de wafer et l'amélioration des rendements. Avec sa gamme complète de fonctionnalités et de fonctions, la 495 offre la flexibilité de générer rapidement des données de métrologie pour améliorer le contrôle des processus et l'optimisation des rendements, permettant aux clients de rester en avance sur la concurrence.
Il n'y a pas encore de critiques