Occasion SSM 495 #293796070 à vendre en France

SSM 495 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour les installations de fabrication de microélectroniques. Le système comporte une combinaison de sous-systèmes pour l'inspection des plaquettes, la métrologie et la surveillance des processus. Pour l'inspection des plaquettes, l'unité comprend des capacités d'imagerie haute résolution, ainsi que des capacités d'examen et de classification des défauts. Cela permet aux utilisateurs d'identifier et de classer rapidement les défauts de plaquette, ainsi que de fournir un mécanisme de déclenchement pour les puits de défaut. La machine intègre également des capacités d'imagerie par microscopie électronique à balayage (SEM) et par faisceau d'ions focalisés (FIB), permettant à l'utilisateur d'examiner les défauts à un niveau détaillé. Pour la métrologie, l'outil fournit un certain nombre de types de mesures différents, qui peuvent être utilisés pour évaluer les propriétés électriques, mécaniques et optiques des plaquettes. Cela comprend des propriétés électriques telles que la résistance, la capacité et la puissance, ainsi que des propriétés optiques telles que la réflectivité, l'absorption et la transmission. Il comprend également des caractéristiques pour les mesures géométriques automatisées de plaquettes telles que la hauteur, la distance et la largeur. L'actif comprend également une gamme d'outils de caractérisation et d'analyse de l'image pour fournir une meilleure compréhension des caractéristiques de la plaquette. Enfin, le modèle comprend un certain nombre de caractéristiques spécifiques de surveillance du processus, y compris la mesure en temps réel de la température de la plaquette, les paramètres structurels de la plaquette, ainsi que la surveillance de la performance de l'équipement. Cela permet aux utilisateurs de s'assurer que les conditions de processus optimales sont respectées et d'identifier rapidement les écarts par rapport aux valeurs souhaitées. L'équipement peut également être couplé avec l'analyse hors ligne des données de processus pour évaluer divers paramètres de processus et métriques au fil du temps. Dans l'ensemble, 495 fournit un système intégré d'analyse et de caractérisation des plaquettes, permettant aux utilisateurs d'identifier rapidement et avec précision les défauts de processus et les solutions potentielles. La gamme complète de capacités d'imagerie, de métrologie et de surveillance des processus offre une grande flexibilité et optimisation, permettant aux utilisateurs de maximiser le rendement des plaquettes dans leur environnement de production.