Occasion SSM 6100 #9055345 à vendre en France

SSM 6100 est un équipement d'essai et de métrologie pour la fabrication de dispositifs semi-conducteurs. Il permet la diffusion dynamique de la lumière, l'ellipsométrie et la spectroscopie de réflectance interne totale sur des plaquettes de 5 « ou 6 ». Le système utilise une optique scientifique de haute sensibilité, offrant une capacité d'acquisition d'images et de données de pointe. L'unité comporte un tunnel de lumière monté dans un logement hermétiquement fermé. Cela permet de focaliser la lumière de la zone d'essai dans un spectromètre très sensible. Le tunnel aide également à réduire la lumière parasite et le bruit thermique associés aux microscopes réguliers. Les utilisateurs peuvent configurer la machine pour effectuer des tests non destructifs de matériaux aussi minces que 0,005mm. De plus, l'étage x-y offre une surface d'échantillonnage maximale de 161,2 mm x 177,8 mm avec une précision de 0,002mm. 6100 offre une acquisition de données de haute précision de la surface de la plaquette. Il dispose d'une large gamme de sources lumineuses, y compris LED, laser de haute puissance, et ampoules halogènes. Chacune de ces sources est conçue pour mesurer efficacement les propriétés physiques à haute résolution. La vitesse de lecture de l'outil peut atteindre 10 000 lectures par seconde. Il offre également un rapport signal/bruit élevé, permettant aux utilisateurs de capturer des mesures très précises. L'actif offre une variété de fonctions d'analyse. Il comprend un puissant algorithme de traitement d'image pour rendre des images sans distorsions apparentes. Le logiciel SSM 6100 offre plusieurs niveaux d'analyse, y compris multi-diffusion, analyse intégrée et corrélation d'image multiple. Cela permet aux utilisateurs de mesurer avec précision l'épaisseur des couches minces et la rugosité de la surface. Dans l'ensemble, 6100 est conçu pour fournir des tests précis et fiables des dispositifs semi-conducteurs. Il offre une conception avancée de tunnel de lumière, spectromètre de haute précision, et une suite de fonctions d'analyse. Cela permet aux utilisateurs de mesurer rapidement et avec précision les propriétés physiques des couches minces sur plaquettes.