Occasion TAMAR Waferscan 300 #293636438 à vendre en France

TAMAR Waferscan 300 est un équipement complet d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour les environnements de production. Ce système offre un haut degré de précision et de précision lors de la mesure et de l'analyse des plaquettes semi-conductrices. Il dispose d'étages de balayage haute résolution qui capturent avec précision de petites caractéristiques géométriques, telles que la largeur des ailettes et la longueur des portes, ainsi que des systèmes optiques haute résolution pour inspecter les microstructures des appareils. L'unité comprend un interféromètre laser très fiable et précis qui fournit des mesures précises de la surface de la plaquette. Grâce à son intégration avec des algorithmes avancés de traitement d'images, il analyse et mesure avec précision la topographie d'une surface de plaquette. Un algorithme de détection automatisé améliore encore la précision en détectant des erreurs potentielles de mesures ou de points de données dues à la diffusion laser de la surface. La machine TAMAR utilise un zoom optique motorisé pour permettre aux utilisateurs d'ajuster rapidement le grossissement de l'outil optique afin d'observer et d'analyser différentes zones. Il dispose également d'une caméra CCD de haute qualité qui capture des images avec un degré de précision extrêmement élevé. L'actif comprend également un moniteur polyvalent permettant aux utilisateurs d'examiner les résultats des mesures et de l'analyse d'images. Waferscan 300 fournit en outre des fonctionnalités pour l'inspection des films i-line et KrF, et est capable de mesurer l'épaisseur des couches du dispositif. De plus, le modèle peut analyser avec précision les mesures d'épaisseur des photorésistances, ce qui permet aux utilisateurs de s'assurer que la dimensionnalité et la résolution des fonctionnalités sont tolérées. Une procédure d'alignement optique automatisée offre aux utilisateurs un moyen facile et précis d'atteindre rapidement l'alignement souhaité de l'optique de l'équipement. Cette fonction d'alignement de précision est très précieuse dans un environnement de production, car elle assure des résultats précis dans les plus brefs délais. Le système peut également mesurer la planéité d'une surface de plaquette, ce qui permet aux utilisateurs d'identifier et de traiter avec précision les problèmes potentiels qui affectent la qualité des appareils. Enfin, l'unité fournit un éventail d'outils d'analyse des données et de capacités de déclaration qui permettent aux utilisateurs d'extraire rapidement des données statistiques et de prendre rapidement des décisions éclairées.