Occasion TAYLOR HOBSON Surtronic 3P CPO #9012791 à vendre en France

TAYLOR HOBSON Surtronic 3P CPO (Coordinated Measuring Point) est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de calibre mondial utilisé dans les usines de fabrication de semi-conducteurs et les laboratoires du monde entier. Il est conçu pour mesurer les caractéristiques physiques des plaquettes avec une résolution sous-nanométrique, donnant des résultats en temps réel et en ligne avec une excellente répétabilité et précision. Le système utilise un stylet et des sondes de stylet laser pour évaluer la planéité, les dimensions géométriques, la dimension critique et la rugosité de surface des plaquettes. Il utilise une unité de contact à trois points pour des mesures précises et répétables. Le contact est positionné avec précision via une machine de contre-réaction à échelle gérée par l'électronique de commande de mouvement, et l'outil détecte toute variation de la forme de la plaquette à l'aide d'un type de sonde différent. L'actif surveille également l'angle critique des plaquettes, ce qui le rend idéal pour les procédés avancés de production de semi-conducteurs qui nécessitent un contrôle serré des angles et des formes. Il est équipé d'un modèle de vision automatisé pour l'alignement facile et précis des sondes sur la plaquette, la configuration et la mesure de structures complexes rapides et efficaces. Les données provenant des opérations de mesure peuvent être stockées, gérées et déclarées dans l'équipement pour l'analyse et la traçabilité. La suite logicielle flexible de Surtronic 3P CPO permet également d'écrire des programmes et des algorithmes personnalisés pour adapter les mesures aux besoins de chaque utilisateur. TAYLOR HOBSON fournit un excellent service à la clientèle et un soutien, garantissant que tous les utilisateurs bénéficient au maximum de la technologie CPO Surtronic 3P de TAYLOR HOBSON. Il fournit également une formation technique aux utilisateurs afin qu'ils puissent utiliser toute la gamme des fonctionnalités du système et tirer parti de ses capacités de métrologie.