Occasion TESA 50 Plus #9399560 à vendre en France

TESA 50 Plus est un équipement automatisé de test et de métrologie des plaquettes qui permet une caractérisation avancée des plaquettes. C'est une solution puissante et rentable pour les fabricants de semi-conducteurs, les fabricants de dispositifs intégrés (IDM) et les maisons d'essai qui doivent évaluer les plaquettes avancées et répondre aux exigences les plus difficiles de l'industrie. 50 Plus est un système autonome optimisé pour les tests et la caractérisation des plaquettes. Il se compose d'une unité de métrologie optique intelligente, d'une technologie de traitement d'image sophistiquée et d'une station de test avancée. La station de sonde de test se compose d'une plate-forme personnalisée avec des moteurs de haute précision, des capteurs et des contrôleurs pour la sonde automatisée des plaquettes et les opérations de test. Il supporte jusqu'à 50 têtes d'essai avec contrôle avancé de la force et mesure de la température pour des essais précis et reproductibles. La machine intelligente de métrologie optique est conçue pour la métrologie et la caractérisation des plaquettes avancées. Il offre une gamme de capacités avancées d'imagerie, d'échantillonnage et de mesure avec une technologie brevetée d'imagerie à réflexion interne totale (TIR). L'outil est conçu pour un débit rapide avec piquage automatisé des images, analyse des fonctionnalités et caractérisation 2D/3D, donnant une précision allant jusqu'à 2 microns. La technologie sophistiquée de traitement d'images fait progresser les capacités de l'actif de métrologie optique, en soutenant la visualisation, l'analyse et le reporting de données paramétriques multiples. En outre, TESA 50 Plus offre des capacités avancées d'acquisition de données, de logiciels connexes et d'analyse de données. Il peut acquérir jusqu'à 24 paramètres simultanément et prend en charge des applications avancées de test et de caractérisation de plaquettes telles que le test de fiabilité, le comptage ou l'ingénierie inverse. 50 Plus est un modèle d'essai et de caractérisation robuste, polyvalent et convivial qui répond aux exigences des fabricants d'IC qui ont besoin de résultats d'essai rapides, précis et reproductibles. Sa fonctionnalité avancée et sa flexibilité en font une solution idéale pour tout fabricant de dispositifs semi-conducteurs ou maison de test.