Occasion THERMA-WAVE OP 2600 #9292608 à vendre en France
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ID: 9292608
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1997
Film thickness measurement system, 8"
1997 vintage.
THERMA-WAVE OP 2600 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes de pointe conçu pour fournir des mesures de haute qualité pour un large éventail d'applications. Le système est adapté pour tester des plaquettes simples et multiples, et ses capacités avancées permettent une caractérisation précise des dispositifs semi-conducteurs standards et avancés. THERMA-WAVE OP-2600 dispose d'une unité de manutention entièrement automatisée des plaquettes avec un choix d'alignement automatique ou manuel des plaquettes. L'alignement automatique assure des résultats précis, et la machine est capable de mesurer jusqu'à 200 points de test par plaquette. L'outil offre également une variété d'outils de détection et d'analyse à grande vitesse, y compris la microscopie optique, l'ajustement de courbe algébrique et la reconnaissance de motifs. Pour les applications de métrologie, l'OP 2600 comprend un spectromètre infrarouge intégré, qui fournit une résolution nanométrique avec une précision ± 1 nm. Cela permet à l'actif de mesurer avec précision l'épaisseur, la densité et les propriétés de la plaquette, ainsi que d'identifier les contaminants à l'échelle nanométrique et les défauts structurels. En outre, OP-2600 comprend une gamme d'outils logiciels de pointe, y compris le modèle de gestion de l'enregistrement des données, et Seer, un outil de visualisation qui permet aux utilisateurs d'analyser des échantillons de plaquettes avec plus d'efficacité et de précision. L'équipement supporte également la connectivité Ethernet pour la télécommande et la surveillance. Dans l'ensemble, THERMA-WAVE OP 2600 est un système avancé d'essai et de métrologie des plaquettes qui offre une gamme complète de capacités de mesure, y compris la détection et l'analyse à grande vitesse, la spectroscopie infrarouge, la manipulation automatisée des plaquettes et les résultats de précision. L'unité est adaptée à une variété d'applications, des semi-conducteurs standards aux matériaux avancés, et sa gamme d'outils logiciels avancés en font un choix idéal pour une caractérisation et un test précis.
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