Occasion THERMA-WAVE OP-3290DUV #293753713 à vendre en France

L'équipement THERMA-WAVE OP-3290DUV est conçu pour l'essai de plaquettes et la métrologie. C'est un outil puissant qui permet aux fabricants de mesurer avec précision une grande variété de caractéristiques associées aux plaquettes semi-conductrices. Il offre les dernières avancées technologiques en métrologie optique, offrant une mesure précise des caractéristiques telles que l'épaisseur des plaquettes, la topographie de surface et la largeur optique. OP-3290DUV système dispose d'un microscope optique avancé, qui permet aux utilisateurs d'inspecter les plaquettes sans les contacter. Le microscope est équipé d'un logiciel permettant de mesurer et d'enregistrer numériquement la topographie, la largeur et d'autres caractéristiques de la plaquette. La précision de mesure peut être ajustée à 0,004/pixel. De plus, l'unité comprend un profilomètre optique, qui permet de détecter des caractéristiques de surface telles que des limites de hillock et de grain sur la plaquette. La machine est conçue pour être utilisée dans un environnement de fabrication de semi-conducteurs, où THERMA-WAVE OP-3290DUV peut être utilisé pour détecter, mesurer et analyser les défauts. Grâce à ses capacités d'imagerie avancées et à son logiciel, l'outil peut détecter les particules, la redistribution de dopants et d'autres irrégularités qui autrement passeraient inaperçues. De plus, l'actif dispose d'une capacité de balayage 2D, permettant aux utilisateurs de cartographier rapidement toute la surface de la plaquette en un seul balayage. Le modèle offre également une capacité de mesure sans contact, permettant aux utilisateurs de mesurer les structures des plaquettes sans entrer en contact avec elles. Le logiciel intégré d'imagerie et de métrologie offre une variété d'options pour contrôler la façon dont l'utilisateur interagit avec la plaquette. Cela fait de OP-3290DUV une solution efficace et rentable pour les essais de plaquettes et la métrologie. En plus de ses capacités d'imagerie et de métrologie, l'équipement THERMA-WAVE OP-3290DUV dispose d'un système de focalisation automatique. Cette caractéristique permet une imagerie précise de la plaquette quel que soit son espacement au sein de l'unité. La combinaison des capacités d'imagerie et de métrologie font de OP-3290DUV un outil puissant pour les essais de plaquettes et la métrologie.