Occasion THERMA-WAVE OPTIPROBE 7341 #9123268 à vendre en France

THERMA-WAVE Optiprobe 7341 est un équipement avancé d'essai de plaquettes et de métrologie pour mesurer la surface et la topographie des plaquettes semi-conductrices et mesurer les matériaux de couches minces. C'est un système de métrologie très précis et non destructif qui fournit une caractérisation de surface 3D supérieure des plaquettes semi-conductrices et des matériaux à couches minces. L'unité est conçue pour effectuer une large gamme de mesures comprenant : rugosité de surface, hauteur de pas, largeur, profondeur, contour et mesures de profil de surface transversal. Optiprobe 7341 est capable de mesurer le rapport d'aspect élevé, ainsi que le rapport d'aspect faible, plaquettes avec des vitesses de balayage jusqu'à 270 mm par seconde (jusqu'à 1000 mm par seconde avec l'option de vue longue). THERMA-WAVE Optiprobe 7341 est capable de générer une grande variété de données quantitatives liées à la surface et à la topographie de la plaquette. Cela comprend une gamme complète de mesures d'assurance de la qualité de l'ingénierie, allant des coefficients de Zernike à la représentation stéréographique. Optiprobe 7341 est également capable de générer des images haute résolution et une variété d'autres sorties, y compris des images de hauteur relative et de couleur, pour la comparaison visuelle et la détection intégrée des défauts. THERMA-WAVE Optiprobe 7341 est équipé d'une suite logicielle intégrée qui permet aux utilisateurs de développer des applications de métrologie personnalisées avec une programmation minimale. Le logiciel est conçu pour être facile à utiliser, intuitif et riche en fonctionnalités, permettant aux utilisateurs d'analyser rapidement les données, d'identifier les tendances et de générer des rapports facilement. Le logiciel offre également de puissantes capacités de détection de défauts basées sur l'image. Optiprobe 7341 est une machine entièrement automatisée qui est conçue pour répondre aux exigences les plus exigeantes des tests de production en fournissant aux utilisateurs des résultats de haute précision sur une grande variété de types et de tailles de plaquettes. Il est équipé d'un microscope optique, d'un contrôleur tactile et d'un outil de sonde automatisé. L'actif de la sonde est constitué d'un étage Z qui permet un balayage continu de la surface de l'échantillon. Le microscope dispose d'un appareil photo numérique haute résolution pour acquérir des images de la surface à scanner. THERMA-WAVE Optiprobe 7341 est un modèle d'essai et de métrologie de plaquettes idéal pour la production de semi-conducteurs à haut volume, et il est conçu pour mesurer des plaquettes dans une large gamme d'étapes de traitement et d'inspection. Ses puissantes capacités logicielles permettent aux utilisateurs d'obtenir rapidement des résultats de caractérisation 3D automatisés sur les plaquettes semi-conductrices, générant des mesures rapides et précises pour l'identification des défauts des plaquettes, l'analyse des pannes et l'optimisation des processus.