Occasion THERMA-WAVE TP 3300 #9093527 à vendre en France

THERMA-WAVE TP 3300 est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de précision conçu pour fournir des résultats précis et fiables pour les plaquettes semi-conductrices. Ce système utilise une combinaison de techniques optiques, de microscopes électroniques à balayage (SEM), d'imagerie thermique et de diverses autres technologies de pointe pour obtenir des mesures précises sans précédent. Il est utilisé par l'industrie des semi-conducteurs pour produire des données cohérentes et précises sur les couches minces, permettant le développement de produits semi-conducteurs de haute qualité. L'unité commence par un alignement et des essais automatisés au niveau des plaquettes. La machine d'alignement combine microscope optique, détection tactile et balayage laser pour détecter et cartographier les caractéristiques physiques à la surface de la plaquette. Ces informations sont ensuite utilisées pour positionner avec précision la sonde à couches minces, ce qui permet une meilleure précision et répétabilité des mesures. L'outil comprend également une variété de méthodes d'essai thermique, comme la thermographie infrarouge et la thermographie, pour caractériser les propriétés thermiques de la plaquette, y compris la conductivité thermique, la résistivité thermique et la capacité thermique. Ces informations sont utilisées pour analyser les paramètres clés du dispositif, tels que la température du procédé, le flux thermique et l'efficacité thermique. L'actif comprend également des microscopes électroniques à balayage avancé (SEM), qui permettent une analyse plus approfondie de la microstructure de la plaquette. Grâce à l'utilisation de l'imagerie et de l'analyse SEM haute résolution, le modèle peut caractériser les formes des composants de la plaquette, la taille des grains et les défauts physiques. Ces informations, combinées à d'autres données provenant des essais thermiques, donnent une image complète des performances de l'appareil. En outre, l'équipement TP 3300 comprend une variété d'autres techniques de métrologie avancées, telles qu'une microscopie à balayage en champ proche (NSM), un compteur de tension de capacité (CV) et un profilomètre. Ces outils permettent une analyse plus complète des caractéristiques de la plaquette, permettant le développement de dispositifs semi-conducteurs de haute qualité et fiables. Le système THERMA-WAVE TP 3300 est une plate-forme avancée d'essai et de métrologie de plaquettes qui fournit des données précises, fiables et complètes pour produire des dispositifs semi-conducteurs de haute qualité et fiables. Sa combinaison d'alignement, de tests thermiques et de microscopes électroniques à balayage en font un outil inestimable pour toute opération de fabrication de semi-conducteurs.