Occasion THERMA-WAVE TP 3300 #9105606 à vendre en France

THERMA-WAVE TP 3300 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie qui fournit des inspections physiques rapides et fiables et des analyses de rendement pour les fabricants de semi-conducteurs et de dispositifs MEMS avancés. Le système utilise l'imagerie thermique infrarouge pour caractériser les défauts physiques qui ne peuvent être révélés par les méthodes optiques classiques. L'unité repose sur un détecteur de réseau de 600 x 600 pixels qui offre un contraste thermique supérieur. Le détecteur est synchronisé avec l'optique d'imagerie à une plage spectrale quasi optimale pour une grande variété de matériaux et d'épaisseurs de plaquettes. L'unité dispose également d'un ordinateur de traitement avancé et d'un logiciel de contrôle automatisé pour des tests rapides et fiables des plaquettes à motifs. Les capacités d'imagerie haute résolution de TP 3300 sont complétées par des fonctions avancées de localisation des défauts et d'authentification des défauts pour s'assurer que chaque plaquette est inspectée avec précision et minutieusement. L'imagerie thermique de l'unité réduit également les gradients thermiques entre les points chauds sur la plaquette et élimine le besoin de réglage manuel de la température. En outre, l'unité dispose d'une fonctionnalité « One-Touch » pour la configuration facile et l'analyse des plaquettes. La machine intégrée comprend également une conception interchangeable de tête de test permettant des vitesses de processus optimisées et une reconfiguration et des mises à niveau plus simples. Enfin, l'outil a une conception ergonomique avec des options de dépassement manuel faciles pour les essais manuels. Les capacités de test de THERMA-WAVE TP 3300 conviennent à de nombreux types de plaquettes et environnements de processus différents. Il est compatible avec les wafers standards de l'industrie tels que sili-con, GaAs et SOI wafers et a également la capacité de détecter les défauts sur les substrats de saphir, GaN et empilement métallique. L'actif est également certifié par la norme internationale SEMI pour les tests avancés de plaquettes et est compatible avec de nombreux outils de métrologie de pointe. Dans l'ensemble, TP 3300 wafer test et modèle de métrologie est une solution idéale pour les fabricants avancés de semi-conducteurs et de dispositifs MEMS. Ses capacités d'imagerie optique et thermique automatisées permettent des inspections des plaquettes plus rapides et plus fiables que les méthodes manuelles, et son interface utilisateur intuitive et sa conception de tête d'essai en font un excellent choix pour les environnements de production et de recherche.