Occasion THERMA-WAVE TP 400 #9047335 à vendre en France

THERMA-WAVE TP 400 Wafer Testing and Metrology Equipment est un appareil très avancé qui permet des tests précis et la métrologie des wafers. Il est spécialement conçu pour des tâches telles que la caractérisation des performances des plaquettes et le comportement des matériaux aux nœuds avancés. Les données saisies servent à déterminer le succès et l'échec de chaque processus de wafer. Le système offre une capacité d'imagerie haute résolution utilisant un réflectomètre spécial. Cela permet à l'opérateur de capturer des images de réflectance et de transmission de la surface de la plaquette pour un balayage précis et une analyse optique. La vitesse de balayage est réglable et peut atteindre 14 ips (pouces par seconde) pour les grandes plaquettes. L'unité comprend également une fonction avancée d'éclairage par diode électroluminescente. Cela permet à l'opérateur de tester facilement des surfaces non planes ou des cibles autrement difficiles telles que de petites fentes et des canaux encastrés. THERMA-WAVE TP400 dispose également d'une machine à module optique haute puissance optimisée pour le test et la métrologie des largeurs de lignes ultra fines. Cela permet de tester et d'analyser en profondeur les géométries des circuits et fournit des mesures très précises des performances de traitement. De plus, l'outil comprend un capteur fluorescent semi-conducteur avancé. Il permet de mesurer l'intensité lumineuse des plages de longueurs d'onde nanométriques à microns et est particulièrement adapté pour la reconnaissance et le calcul des signaux faibles. TP 400 Wafer Testing and Metrology Asset dispose d'une architecture très robuste et fiable, offrant une précision et une répétabilité supérieures. De plus, l'environnement intégré garantit également que toutes les données sont bien conservées et archivées correctement. L'utilisation de ce modèle nécessite un transfert minimal de données techniques entre l'équipement et son opérateur. Une fois la procédure d'essai ou de métrologie terminée, le système produira automatiquement un rapport complet des résultats de l'essai. Pour améliorer l'expérience utilisateur et faciliter les tâches de test et de métrologie, TP400 comprend une interface graphique utilisateur. Ceci est particulièrement utile pour les utilisateurs inexpérimentés car il simplifie et rationalise les opérations de l'unité. En outre, il réduit également le temps de configuration et améliore l'interactivité et la précision. En conclusion, THERMA-WAVE TP 400 Wafer Testing and Metrology Machine est un appareil de pointe spécialement conçu pour les essais précis et les exigences de métrologie des processeurs de wafer. Ses nombreuses fonctionnalités permettent des tests précis et la métrologie des wafers aux nœuds avancés et assurent un reporting complet des résultats. Il s'agit donc d'un outil inestimable dans l'industrie des semi-conducteurs et adapté à toute une série de tâches de métrologie.