Occasion THERMA-WAVE TP 400 #9299958 à vendre en France

THERMA-WAVE TP 400 Wafer Testing and Metrology Equipment est un système puissant et perfectionné conçu pour les essais dynamiques dans les environnements de production et de recherche des wafers. Le testeur propose des tests de wafer de haute précision et non destructifs avec son assistant de programme de test automatisé. L'unité est capable de tester la précision cyclique en température des plaquettes, ainsi que des paramètres hybrides sur commande, ce qui en fait un outil précieux pour la recherche et les systèmes de contrôle de la qualité. La machine est conçue pour vérifier les problèmes électriques, thermiques et mécaniques dans les plaquettes, offrant aux utilisateurs des mesures de sensibilité élevée et de larges plages de température pour les essais. Il est également capable de tester des paramètres liés aux caractéristiques physiques de la surface de la plaquette tels que l'épaisseur moyenne de la plaquette, la température d'interface idéale entre la plaquette et la sonde de test, et la capacité de portance de la plaquette. THERMA-WAVE TP400 Wafer Testing and Metrology Tool est équipé d'un écran à cristaux liquides haute résolution pour des lectures faciles et d'une interface utilisateur intuitive qui simplifie le fonctionnement et permet aux utilisateurs de mettre rapidement en place des tests. L'actif est conçu pour fonctionner en mode mono ou multi-plaquettes avec jusqu'à 128 tirs par plaquette. Le logiciel PC fourni facilite la programmation de tests rapides et l'acquisition de données. TP 400 Wafer Testing and Metrology Model dispose également d'une plage de température étendue - il peut effectuer des tests de -40 ° C à + 400 ° C, par paliers de 0,1 ° C, et les utilisateurs peuvent choisir parmi trois différents taux de chauffage programmables : 1, 3 ou 5 ° C/min. En outre, une variété de caractéristiques supplémentaires rendent l'équipement attrayant pour la recherche et les applications industrielles. Ces caractéristiques comprennent l'enregistrement et la déclaration complets des données, le balayage laser en boucle fermée et un large éventail de techniques d'analyse. Dans l'ensemble, TP400 Wafer Testing and Metrology System est une unité idéale pour les essais et les mesures de pointe de wafer dans les environnements de recherche et de production. Ses capacités d'analyse complètes, son interface conviviale et sa gamme complète de fonctionnalités le rendent idéal pour la recherche, le travail de développement et les systèmes de contrôle de la qualité.