Occasion TOHO TECHOLOGY FLX-2320S #293632535 à vendre en France

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ID: 293632535
Taille de la plaquette: 6"
Style Vintage: 2003
Thin film stress measurement system, 6" 2003 vintage.
TOHO TECHOLOGY FLX-2320S est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes de pointe adapté à des applications telles que la fabrication de 3D-TSV, FinFET, Cu-Cu et MEMS. Le système est capable de mesurer les paramètres physiques et électriques des plaquettes SoC et de mourir de tailles et de géométries variables. Il permet de déterminer avec précision les caractéristiques d'un maximum de 8 plaquettes par cycle. FLX-2320S utilise 4-Quartz étage de transfert de plaquettes sans contact CCD, des champs de vision haute résolution et des optiques flexibles pour permettre la prise d'images haute résolution et la mesure de dimensions variées. L'optique peut être ajustée en fonction de différentes cibles de mesure. En outre, cette unité est équipée d'un étage de transfert de plaquettes CCD sans contact 6 étages récemment développé et d'une ICOS (machine optique couleur intelligente) pour fournir une plus grande précision. Les capacités de métrologie de TOHO TECHOLOGY FLX-2320S fournissent une puissante caractérisation et une analyse automatisée des échantillons de plaquettes sans contact. L'outil est capable de collecter rapidement plusieurs images de plaquettes et d'effectuer des tâches de mesure complexes, où les paramètres de forme et la rugosité des bords peuvent être caractérisés en une seule opération. L'actif est très répétable (à moins de 3 σ) et dispose de mesures automatisées allant jusqu'à 7 angles différents de 0 à 90 degrés. Cela donne un aperçu de l'uniformité de l'épaisseur, des microgéométries ainsi que des géométries de surface complexes. FLX-2320S offre un réglage rapide, une mesure automatique, une grande profondeur de champ et un logiciel de contrôle facile à utiliser. Le modèle peut également être intégré à d'autres équipements de test et de traitement tels que les systèmes de collage et les chambres à température contrôlée, offrant une flexibilité supplémentaire et des solutions intégrées de bout en bout. La conception robuste de TOHO TECHOLOGY FLX-2320S et sa variété de capacités de métrologie, ainsi que ses solutions d'automatisation, font de l'équipement un choix idéal pour les essais de plaquettes et la métrologie. Ce système est conçu pour fournir des résultats optimaux qui garantissent un rendement, des performances et une qualité optimales dans le processus de fabrication des semi-conducteurs. FLX-2320S permet aux utilisateurs de garantir un niveau plus élevé d'efficacité de production tout en maintenant la meilleure qualité possible de leurs produits.
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