Occasion TOKYO SEIMITSU E-MF1000-100 #9374930 à vendre en France

TOKYO SEIMITSU E-MF1000-100 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour la mesure et l'évaluation de haute précision des circuits intégrés. Le système offre une plate-forme d'évaluation avancée au niveau des plaquettes qui utilise la technologie SLAM (Structured Light Advanced Measurement) et la technologie de positionnement des étages de haute précision pour mesurer et analyser rapidement les plaquettes. Il peut mesurer tous les indicateurs de performance importants d'un circuit intégré, y compris les caractéristiques électriques, les dimensions physiques et les fuites électriques. Sa technologie SLAM dispose d'une unité laser bi-axiale, capable de mesurer des dimensions étendues et d'effectuer une inspection visuelle approfondie. L'outil de mesure optique haute vitesse de la machine peut mesurer plusieurs zones simultanément, et a un temps de réaction rapide de 0,8 ms. Il a également la sélection automatique des défauts et la technologie de cartographie des plaquettes assistée par robot, lui permettant d'identifier avec précision les défauts potentiels sur les plaquettes. L'actif est équipé d'une table rotative pour permettre des mesures à faible vibration et un positionnement fiable des pièces. La robotique entièrement automatisée peut déplacer des plaquettes et des pièces sans intervention humaine. Il peut mesurer les paramètres du processus pour s'assurer de l'optimisation et de la répétabilité du processus, et identifier tout défaut ou défaut potentiel. Le modèle dispose également d'un chargeur avancé capable de charger et de décharger jusqu'à 15 plaquettes par heure, ce qui lui permet de traiter un grand nombre de différents types de plaquettes. Il comprend également la cartographie en temps réel (RTM) et l'analyse de réflexion en temps réel, fournissant aux opérateurs une rétroaction en temps réel sur les conditions de processus et assurant une traçabilité complète. L'équipement est capable d'opérations précises et est capable de mesures et d'évaluations en plusieurs unités, y compris des nanomètres, des micromètres et des microns. Il dispose également d'un protocole Z-axis pour la plaquette, permettant de multiples couches de données de processus et de rétroaction en temps réel de tout changement dans la disposition et la structure de la plaquette. En outre, le système est capable d'enregistrer et de tracer des données, fournissant une vue d'ensemble de l'ensemble du processus de production. Ces données peuvent ensuite être utilisées pour identifier les domaines à améliorer et optimiser les processus de production et la qualité des produits. L'unité dispose également d'une interface utilisateur simple, ce qui la rend facile à utiliser pour les opérateurs. Dans l'ensemble, E-MF1000-100 est une machine d'essai et de métrologie avancée conçue pour la mesure et l'évaluation de haute précision des circuits intégrés. Grâce à ses capacités avancées de robotique, d'imagerie et d'analyse de données, l'outil offre une vision complète et de haute précision de l'ensemble du processus de production des plaquettes. Son interface utilisateur simple, ses capacités de mesure et d'évaluation précises et ses fonctions d'enregistrement et de tracé des données en font un atout idéal pour les tests de wafer de haute précision et la métrologie.