Occasion TOKYO SEIMITSU YR-60 #9156520 à vendre en France

L'équipement TOKYO SEIMITSU YR-60 d'essai de plaquettes et de métrologie est un outil puissant pour mesurer la microstructure des puces semi-conductrices. Ce système utilise une technologie avancée de capture d'image pour présenter une image précise de la structure intérieure de la plaquette. C'est une unité très efficace qui peut fournir un retour rapide de la qualité des puces semi-conductrices fabriquées. Cela permet aux fabricants de déterminer rapidement si leurs produits répondent aux spécifications souhaitées et de s'assurer que leurs produits répondent aux normes de qualité requises pour leur utilisation efficace. Le cœur de cette machine est ses capteurs qui collectent des données sur la structure de la plaquette. Il utilise une variété de méthodes de capture de données qui comprennent la lumière infrarouge, la lumière ultraviolette et la lumière visible, assurant que des images précises sont capturées. Ces capteurs et technologies de capture d'image sont également capables de détecter les propriétés électriques de la plaquette, telles que le courant transitoire, la charge électrique et la capacité. YR-60 dispose également d'une unité de contrôle qui traite les données collectées par les capteurs. Cette unité de commande est capable de prendre un large éventail de mesures, telles que les dimensions géométriques, la rugosité et d'autres propriétés physiques. De plus, l'unité de contrôle est capable d'effectuer des fonctions de contrôle de procédé, telles que la compensation de la dérive de température ou d'autres facteurs environnementaux susceptibles d'affecter les mesures. TOKYO SEIMITSU YR-60 dispose également d'une gamme complète d'outils logiciels pour aider les opérateurs à analyser les données collectées par l'outil. Les outils logiciels comprennent une variété de fonctions de cartographie et de graphie, ainsi que la possibilité de calculer des données telles que la taille du défaut, le type de défaut et le rendement du processus. YR-60 est un moyen puissant et efficace de mesurer avec précision la microstructure des puces semi-conductrices. C'est un outil fiable qui peut fournir aux fabricants des résultats rapides et s'assurer que leurs produits répondent aux normes de qualité requises. Cet actif est un équipement essentiel pour toute installation de production de semi-conducteurs.