Occasion TOKYO SEIMITSU YR-60 #9258195 à vendre en France

TOKYO SEIMITSU YR-60
ID: 9258195
Style Vintage: 1985
Wafer surface measurement system 1985 vintage.
TOKYO SEIMITSU YR-60 est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes hautement avancé conçu pour l'inspection des propriétés des plaquettes semi-conductrices. Utilisant la technologie basée sur la vision, YR-60 peut inspecter avec précision toute la surface de la plaquette, y compris la forme irrégulière ou les plaquettes courbes. Le système est composé d'une unité de radiographie automatisée pour la mesure de l'épaisseur des plaquettes de haute précision, ainsi que d'une station de mesure microscopique avec des capacités d'inspection 3D. En outre, l'imagerie haute résolution est fournie par une machine de caméra avancée avec une large gamme de microscopes et des capteurs de contrôle. L'outil de caméra avancé permet un alignement facile, offrant une visibilité supérieure pour assurer des mesures précises. TOKYO SEIMITSU YR-60 est conçu pour manipuler des plaquettes jusqu'à 300mm de diamètre. Plusieurs performances peuvent être effectuées sur la même plaquette, et chaque performance est stockée dans une base de données pour référence future. Cette caractéristique élimine la nécessité de mesurer physiquement et de comparer chaque plaquette. En plus de mesurer l'épaisseur, YR-60 est capable d'examiner la forme, les dimensions, la planéité et la géométrie de la plaquette. L'actif utilise des mesures de rugosité de surface pour s'assurer que la surface de la plaquette a une texture uniforme. TOKYO SEIMITSU YR-60 offre également une large gamme de mesures de contraintes, y compris la courbure, la force de liaison, la contrainte et la rigidité thermique. Les données de YR-60 sont analysées par plusieurs solutions logicielles avancées, dont SEMITOOL Test Suite de SEIMITSU, qui détecte et présente automatiquement les images, les caractéristiques de surface et les rapports d'état des plaquettes. Le SEMITOOL Data Analyzer est également utilisé pour analyser les caractéristiques des performances d'une plaquette, permettant des comparaisons de données fiables et une analyse impartiale des données. TOKYO SEIMITSU YR-60 est un modèle très polyvalent et sophistiqué pour l'essai de plaquettes et la métrologie. Sa technologie de caméra avancée, sa précision de mesure et ses capacités de levé et d'analyse automatisés en font un choix idéal pour la production de semi-conducteurs de tous les niveaux de complexité.
Il n'y a pas encore de critiques