Occasion UNION OPTICAL THS-10 #293752276 à vendre en France

UNION OPTICAL THS-10
ID: 293752276
Style Vintage: 2000
Wafer thickness measurement system 2000 vintage.
UNION OPTICAL THS-10 est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe conçu pour l'industrie des semi-conducteurs. Ce système de pointe intègre une optique de précision, des logiciels sophistiqués et des mécanismes automatisés pour fournir des capacités de test et de mesure très précises et fiables pour les plaquettes semi-conductrices. Au cœur d'unité THS-10 est une machine reflétante optique à haute résolution qui tient compte de l'inspection détaillée de surfaces de gaufrette au niveau de micron. Cet outil d'imagerie est équipé d'optiques avancées, y compris des lentilles haute résolution et des filtres, pour capturer des images claires et vives de la plaquette à l'essai. L'actif optique est capable d'examiner diverses caractéristiques de la plaquette, telles que les motifs, les défauts et les dimensions critiques, avec une clarté et une précision exceptionnelles. Le modèle UNION OPTICAL THS-10 dispose également de mécanismes de positionnement et d'alignement automatisés qui garantissent des procédures d'essai précises et reproductibles. Ces mécanismes permettent un positionnement précis de la plaquette sous l'équipement optique, ainsi qu'un alignement précis du système d'imagerie avec des caractéristiques spécifiques sur la plaquette. Ce niveau d'automatisation non seulement améliore l'efficacité des tests, mais réduit également le risque d'erreur humaine, ce qui donne des résultats de test plus fiables. En plus de ses capacités d'imagerie, THS-10 unité est équipée d'outils de métrologie avancés pour mesurer diverses propriétés de la plaquette, telles que les dimensions, la rugosité de surface, et l'épaisseur du film. Ces outils de métrologie utilisent des techniques telles que l'interférométrie, la spectroscopie et la profilométrie pour fournir des mesures précises et quantitatives des propriétés des plaquettes. Les outils d'analyse logicielle de la machine améliorent encore les capacités de métrologie en traitant les données collectées et en produisant des rapports détaillés et des visualisations pour une analyse plus approfondie. Une des caractéristiques clés de l'outil UNION OPTICAL THS-10 est sa polyvalence et son évolutivité. L'actif est conçu pour accueillir un large éventail de tailles et de types de plaquettes, ce qui le rend adapté à divers procédés de fabrication de semi-conducteurs. Que ce soit pour tester des plaquettes de silicium standard ou des plaquettes semi-conductrices composites avancées, THS-10 modèle peut être facilement personnalisé pour répondre à des exigences de test spécifiques. En outre, les équipements d'UNION OPTICAL THS-10 sont équipés de fonctionnalités avancées de traitement des données et de connectivité qui permettent une intégration transparente avec d'autres équipements de traitement des plaquettes et systèmes de gestion des données. Le système peut communiquer avec des bases de données externes, des systèmes de contrôle et des outils d'analyse pour rationaliser le processus de transfert et d'analyse des données, facilitant ainsi la caractérisation complète des wafers et l'optimisation des processus. Dans l'ensemble, THS-10 unité d'essai et de métrologie des plaquettes représente une solution de pointe pour les fabricants de semi-conducteurs qui cherchent à améliorer leurs capacités d'essai et de mesure des plaquettes. Avec son optique de précision, ses fonctions d'automatisation, ses outils de métrologie avancés et sa conception polyvalente, la machine UNION OPTICAL THS-10 offre une solution complète pour caractériser les propriétés des plaquettes et optimiser les processus de fabrication des semi-conducteurs.
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