Occasion UNION OPTICAL THS-208 #9386074 à vendre en France

UNION OPTICAL THS-208 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes qui fournit une plate-forme pour la qualification efficace des défauts et la métrologie dans l'industrie des semi-conducteurs. Ce système polyvalent d'essai de plaquettes dispose d'une gamme complète de solutions optiques et électriques pour le développement d'IC à haut rendement et le désencastrement rapide des pannes électriques non liées aux défauts. UNION OPTICAL THS 208 propose plusieurs outils de test et de métrologie automatisés, qui permettent de qualifier efficacement les défauts et la métrologie sur les plaquettes semi-conductrices de 200mm et 300mm. THS-208 dispose d'un microscope optique qui permet de visualiser les défauts du haut et du bas avec une haute résolution. Il offre également une cartographie automatisée des plaquettes, qui permet d'identifier rapidement les dysfonctionnements des circuits liés au rendement, et fournit des données organisationnelles qui peuvent être utilisées pour cerner les problèmes systémiques. Le THS 208 est équipé de capacités de manipulation automatisée des essais et d'une surveillance précise et rapide des résultats des essais. Cette unité est capable de capturer et de transmettre en temps réel des données provenant de multiples paramètres électriques de test. En outre, UNION OPTICAL THS-208 a la capacité de contrôler et de coordonner plusieurs dispositifs sur et hors site, assurant le partage des données et l'exécution rapide des tests. Il est également capable d'extraire et d'analyser rapidement des données sur les puces, qui peuvent être utilisées pour développer des architectures de puces, fournir des informations sur les produits et comprendre les besoins des clients. Enfin, cette machine peut être utilisée pour l'optimisation des procédés, permettant d'optimiser facilement les environnements de production. Dans l'ensemble, UNION OPTICAL THS 208 est un outil d'essai de plaquettes et de métrologie qui fournit aux utilisateurs des solutions efficaces de qualification des défauts et de métrologie pour les plaquettes de 200mm et 300mm. Cet actif comprend un microscope optique, une cartographie automatisée des plaquettes, des capacités de manipulation automatisée des tests, une surveillance à grande vitesse des résultats des tests, la capacité de contrôler et de coordonner plusieurs appareils, et des capacités d'extraction et d'analyse des données. Ce modèle d'essai et de métrologie tout-en-un est l'équipement idéal pour la qualification et la métrologie efficaces des défauts dans l'industrie des semi-conducteurs.