Occasion VEECO 150 #293807230 à vendre en France

VEECO 150 wafer testing and metrology equipment est une plate-forme de métrologie polyvalente et performante conçue pour les essais de semi-conducteurs et les applications de métrologie. C'est un système intégré avec une combinaison flexible d'optique, d'autres modes non optiques, et la technologie plate-forme-AGILE, fournissant la plus haute résolution et le débit pour une grande variété d'applications de semi-conducteurs. L'unité dispose d'un transport de plaquettes à plusieurs colonnes, d'une machine optique à haut débit et d'un lecteur d'étages à résolution nanométrique. Le transport à colonnes multiples comporte un transport de plaquettes à 5 broches, un capteur de position horizontale/verticale à 5 niveaux, et une broche conditionnée et un rail à quai pour le déplacement à haut débit de la plaquette. L'outil optique comprend des composants intégrés brevetés tels qu'une caméra, un filtre optique et une source lumineuse pour l'imagerie haute vitesse. Son lecteur d'étages à résolution nanométrique offre une précision et une répétabilité sans précédent avec une plage Z maximale de 2 micromètres et une plage XY maximale de 600 micromètres. VEECO DEKTAK 150 dispose également d'une large gamme de capacités d'automatisation et d'intégration de données adaptables aux différents processus de test des plaquettes. Il fournit une suite de fonctionnalités automatisées telles que la recherche de plaquettes, la cartographie et l'alignement optimal des plaquettes, et des processus de « portée » pour éliminer l'intervention manuelle. Il comprend également des outils avancés de collecte et d'analyse de données, de visualisation et de présentation de rapports pour une récupération et une analyse efficaces des données. En outre, cet atout fournit des protocoles de données et des algorithmes sécurisés et intégrés pour garantir des résultats exacts. Son architecture multi-colonnes et multi-couches offre une évolutivité et une disponibilité fiables car elle traite un grand nombre de plaquettes offrant une efficacité maximale. Son algorithme de détection des défauts basé sur l'apprentissage profond peut identifier divers défauts en utilisant de multiples perspectives et est capable de classer les défauts en plus des calculs de seuil. 150 wafer testing and metrology model convient à des applications dans divers secteurs tels que les semi-conducteurs, l'optoélectronique, l'électronique grand public, l'automobile, l'aérospatiale et la défense. Il fournit des performances de métrologie fiables et est une solution fiable et durable pour les applications de métrologie à haut débit.