Occasion VEECO 9000 #9024202 à vendre en France

VEECO 9000 est un puissant équipement d'essai et de métrologie de plaquettes développé par VEECO Instruments Inc. Il est conçu pour fournir le plus haut débit, la résolution, la répétabilité et la précision pour une variété d'applications de plaquettes. Ce système comprend plusieurs instruments avancés, tels que le microscope de cartographie des plaquettes, le profilomètre, l'ellipsomètre et le microscope à force atomique (AFM). Ces outils permettent une analyse détaillée de la topologie de surface, de la chimie, des impuretés et des défauts. Le microscope de cartographie par plaquettes de l'unité est le composant optique qui comporte deux phases d'acquisition d'images : en ligne et en ligne transversale. Cet outil peut recueillir un certain nombre de différents types de données d'image, y compris la topologie de surface et le profil de surface 3D. Le scanner est capable de scanner continuellement jusqu'à 150mm de diamètre et jusqu'à 4 pouces d'épaisseur. L'étage peut être utilisé pour le balayage en ligne ou en ligne transversale, avec un alignement automatisé d'échantillons. Le proifolomètre est un outil puissant pour mesurer la topographie à l'échelle nanométrique. Il est capable de mesurer des largeurs et des profondeurs de lignes de sous-microns avec une précision nanométrique. La machine offre plusieurs modes de fonctionnement, y compris la capacité de balayage rapide sur une grande surface avec une haute résolution verticale. Cet outil utilise la technologie optique interférométrique pour assurer des mesures précises. L'ellipsomètre mesure les données pour les paramètres critiques du processus de la plaquette, tels que l'épaisseur et la topographie. Il dispose d'un étalonnage automatique des sources lumineuses pour différentes longueurs d'onde, et peut mesurer les caractéristiques spectrales de surfaces aussi petites que 5nm. Il peut également mesurer l'indice de réfraction, le coefficient d'extinction, l'angle d'extinction et le coefficient d'absorption. Le microscope à force atomique (AFM) utilise une combinaison de sondes de balayage pour mesurer la topologie de surface du niveau atomique et la chimie des échantillons. Cet outil est capable de générer des images extrêmement haute résolution de nanométrie de surface avec une précision nanométrique. Il a une tête de balayage bidimensionnelle et peut se déplacer jusqu'à une résolution x-y-z allant jusqu'à 0,5nm. L'AFM est également équipé de différents modes d'imagerie, y compris l'imagerie par modulation de force, l'imagerie par asymétrie de balayage, l'imagerie par phase et l'imagerie par tapotage. En plus de ces instruments avancés, 9000 outils comprennent également plusieurs logiciels supplémentaires pour l'analyse et la surveillance des données. L'actif comprend une interface utilisateur qui permet une configuration facile et l'accès aux données. Le modèle peut également créer des rapports et des images détaillés à partir de ces ensembles de données. Pour les professionnels de l'industrie qui exigent des performances et une précision élevées pour l'analyse de surface à l'échelle nanométrique, VEECO 9000 wafer testing and metrology equipment offre le plus haut débit, la répétabilité et la précision. En combinant plusieurs instruments puissants, il offre un niveau de précision inégalé pour mesurer la topologie de surface, la chimie, les impuretés et les défauts. De l'imagerie avancée à la collecte de données détaillées, 9000 est la solution optimale pour une variété d'applications de plaquettes.