Occasion VEECO / BRUKER NPFLEX #9309128 à vendre en France

VEECO/BRUKER NPFLEX est un système de métrologie avancée et de test de plaquettes conçu pour la production et la recherche de matériaux semi-conducteurs composés. Cet équipement fournit un test non destructif rapide et précis de divers composés, y compris des semi-conducteurs de composés III-V, sur des plaquettes. En combinant un microscope à lumière visible et un microscope optique à balayage en champ proche (NSOM), le système peut atteindre une résolution latérale élevée (jusqu'à 50 nm). La haute résolution latérale permet d'étudier diverses structures sur les échantillons, allant de caractéristiques de base telles que les micro/nano bosses et tranchées, à des motifs plus complexes tels que les pointes de sonde Cantilever, les dispositifs nanoélectroniques et les circuits photoniques. L'unité dispose également de capacités d'acquisition de données et d'imagerie, qui permettent des mesures rapides et des scans microscopiques. Cela permet aux utilisateurs d'acquérir et d'analyser des images étendues avec un large éventail de paramètres, allant des propriétés électriques de base comme la densité de courant et la permittivité électrique, à des paramètres plus complexes comme la distribution des champs optiques et électriques. En plus de l'acquisition de données et de l'imagerie, VEECO NPFLEX est également capable de cartographier en 3D en combinant plusieurs techniques de microscopie. Cela permet aux utilisateurs d'obtenir une image détaillée en trois dimensions de la surface de la plaquette, en imitant successivement des détails de hauteur fine. La capacité de cartographie 3D est particulièrement utile pour les applications de nanomanufacturation, telles que les mesures de largeur de ligne réelle, la cartographie de la rugosité de surface, l'imagerie de rapports d'aspect élevés, et l'analyse de la déformation des plaquettes. Dans l'ensemble, BRUKER NPFLEX est une machine avancée d'essai et de métrologie de plaquettes qui combine l'imagerie haute résolution et l'acquisition rapide de données pour fournir une image complète des plaquettes semi-conductrices composées. Cela permet aux utilisateurs d'obtenir des informations et des analyses détaillées sur les structures micro/nano de la plaquette, ce qui en fait un outil parfait pour ceux qui participent à la production et à la recherche de matériaux semi-conducteurs composés.