Occasion VEECO / BRUKER / SLOAN DEKTAK 6M #293796360 à vendre en France

ID: 293796360
Style Vintage: 2005
Profilometer Radius: 0.2 µm Force: 3 mg Measurement range: 655 kA Length: 200 µm SIEMENS Simatic rack PC 547B Operating system: Windows XP 2005 vintage.
VEECO/BRUKER/SLOAN DEKTAK 6M est un équipement sophistiqué d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour la mesure et l'analyse de haute précision des plaquettes semi-conductrices. Ce système de pointe combine l'expertise de trois grandes entreprises dans le domaine des essais de semi-conducteurs et de la métrologie - VEECO Instruments Inc., SLOAN Corporation et BRUKER Technology Corporation. L'unité VEECO DEKTAK 6M est équipée d'une technologie de pointe et de caractéristiques permettant une caractérisation précise des surfaces des plaquettes, essentielles pour garantir la qualité et la performance des dispositifs semi-conducteurs. La machine utilise une combinaison de techniques de mesure par contact et sans contact pour évaluer avec précision la topographie, la rugosité et les autres propriétés de surface des plaquettes. Un des composants clés de l'outil SLOAN DEKTAK 6M est le profileur stylus, qui permet un profilage de surface haute résolution par contact direct avec la surface de la plaquette. Le profileur de stylet utilise un stylet à pointe fine pour scanner la surface de la plaquette et capturer des données topographiques détaillées avec une résolution sous-nanométrique. Cela permet de mesurer avec précision des caractéristiques telles que la hauteur des marches, la rugosité et l'épaisseur du film avec une excellente précision et répétabilité. Outre le profilage des contacts, BRUKER DEKTAK 6M intègre également des techniques de mesure sans contact telles que le balayage optique et laser pour une caractérisation rapide et efficace des surfaces des plaquettes. Ces méthodes sans contact permettent une acquisition de données à grande vitesse et sont idéales pour analyser des plaquettes délicates ou sensibles sans risque d'endommagement par contact direct. Le modèle DEKTAK 6M offre une gamme de modes de mesure et de capacités d'analyse pour répondre aux diverses exigences des fabricants de semi-conducteurs et des chercheurs. Les utilisateurs peuvent effectuer divers types de balayages de surface, y compris les balayages de ligne, les balayages de surface et les balayages 3D, pour obtenir une compréhension complète de la topographie et des propriétés de surface des plaquettes. L'équipement est équipé d'outils logiciels avancés pour l'analyse des données, la visualisation et l'établissement de rapports, permettant aux utilisateurs d'extraire des informations précieuses des données de mesure et de prendre des décisions éclairées concernant la qualité des plaquettes et l'optimisation des processus. L'interface conviviale du logiciel permet un fonctionnement intuitif et une personnalisation des paramètres de mesure en fonction des besoins spécifiques de l'application. En outre, le système VEECO/BRUKER/SLOAN DEKTAK 6M est conçu pour la fiabilité, la précision et la facilité d'utilisation dans les environnements de fabrication de semi-conducteurs. Il dispose d'une construction robuste, d'une isolation des vibrations et de mécanismes de régulation de la température pour garantir des performances de mesure stables et cohérentes, même dans des conditions de fonctionnement difficiles. En conclusion, l'unité de test et de métrologie VEECO DEKTAK 6M représente une solution de pointe pour une caractérisation de surface précise des plaquettes semi-conductrices. Avec sa technologie de pointe, ses capacités de mesure polyvalentes et son interface conviviale, cette machine est un outil précieux pour les professionnels de l'industrie des semi-conducteurs qui cherchent à obtenir une analyse des plaquettes de haute qualité et un contrôle des processus.
Il n'y a pas encore de critiques