Occasion VEECO / BRUKER / SLOAN DEKTAK XT 3D #293827685 à vendre en France

VEECO/BRUKER/SLOAN DEKTAK XT 3D est un équipement d'essai et de métrologie avancé conçu pour la mesure et l'analyse de topographie de surface complète dans l'industrie de la fabrication de semi-conducteurs. Ce système de pointe intègre la technologie de pointe de trois entreprises leaders dans l'industrie - VEECO Instruments Inc., SLOAN Corporation et BRUKER Technology Corporation - afin de fournir des capacités de profilage 3D de haute précision pour caractériser la qualité et la morphologie de la surface des plaquettes. Au cœur de l'unité se trouve le profileur 3D VEECO DEKTAK XT, qui utilise une combinaison de profilométrie de contact à stylet et de techniques d'interférométrie optique pour garantir une mesure précise et fiable des caractéristiques de surface sur les plaquettes. La machine est équipée d'un stylet de précision qui balaye la surface de la plaquette, détectant les variations de hauteur de surface avec une résolution au niveau du nanomètre. En outre, le module d'interférométrie optique capture des données détaillées de topographie de surface avec une haute résolution latérale, permettant la génération de cartes de surface 3D pour une analyse approfondie. L'un des points forts de l'outil SLOAN DEKTAK XT 3D est sa polyvalence dans la manipulation d'un large éventail de matériaux et de tailles de substrat couramment utilisés dans la fabrication de semi-conducteurs. Que ce soit pour tester des plaquettes de silicium, des substrats semi-conducteurs composés III-V ou des substrats en verre, l'actif est capable de loger différents matériaux sans sacrifier la précision ou la précision de mesure. En outre, le modèle prend en charge des tailles de plaquettes allant de petits échantillons à des plaquettes complètes de 300mm, répondant aux divers besoins de l'industrie. En termes de fonctionnalité, l'équipement DEKTAK XT 3D offre une suite complète d'outils de mesure et d'analyse pour extraire des informations précieuses des données de topographie de surface acquises. Les utilisateurs peuvent effectuer des analyses avancées telles que des calculs de rugosité, des mesures de hauteur de pas, un profilage de rugosité de surface et une détection de défauts facilement, grâce à l'interface logicielle intuitive et aux puissantes capacités de traitement de données du système. La plate-forme logicielle de l'unité offre également aux utilisateurs la flexibilité nécessaire pour personnaliser les paramètres de mesure, de visualisation des données et les algorithmes d'analyse afin d'adapter les performances de la machine aux exigences spécifiques de l'application. Ce niveau de personnalisation assure une précision et une répétabilité optimales des mesures, ce qui permet aux utilisateurs d'obtenir des informations précises et fiables sur la topographie de surface pour le contrôle des processus, l'assurance de la qualité et la recherche et le développement. Dans l'ensemble, l'outil BRUKER DEKTAK XT 3D représente une solution de pointe pour les essais de plaquettes et les applications de métrologie dans l'industrie des semi-conducteurs. En combinant l'expertise et les technologies de VEECO/BRUKER/SLOAN, VEECO et SLOAN, cet actif offre des performances, une précision et une polyvalence inégalées pour caractériser la topographie de surface des plaques dans une variété de matériaux et de tailles, ce qui en fait un outil indispensable pour les fabricants de semi-conducteurs cherchant à optimiser les processus de production et à améliorer la qualité des produits.