Occasion VEECO / BRUKER WYKO NT3300 #9263282 à vendre en France

ID: 9263282
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2012
Surface profiler, 12" Main body Optic unit: Mag changer 1x Mag changer 2.0x Mag changer 50x Objective lens: IXL 5x IXL 10x IXL 50x IXS 2051 (2) Keyboards (Trackball, joystick) System controller Scanner amplifier box 2012 vintage.
VEECO/BRUKER WYKO NT3300 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes de haute performance conçu pour l'industrie des semi-conducteurs. Ce système avancé est capable de cartographier tous les détails de n'importe quel type de plaquette, du bord à la surface, en utilisant sa technologie interférométrique brevetée. VEECO WYKO NT3300 utilise un puissant palier et capteur multi-axes pour des mesures précises et rapides sur une large gamme de types d'échantillons. La technologie très précise des nanotubes fournit une cartographie précise du contour 2D avec des niveaux de précision sous-nanométrique. La conception avancée de l'unité permet de maintenir un taux d'échantillonnage élevé sur toutes les tailles et formes de plaquettes. BRUKER WYKO NT3300 dispose d'une variété de capacités de mesure et d'analyse, y compris la topographie de surface 3D, les mesures de dimensions critiques (CD), la mise au point automatisée, l'analyse de l'épaisseur des couches minces, les mesures du courant de fuite et des contraintes, la détection des défauts, et plus encore. La machine WYKO NT3300 comprend une suite complète de logiciels d'acquisition et de visualisation de données conçus pour fournir des mesures de données détaillées et des rapports de contrôle de processus. Ce logiciel puissant utilise le contrôle statistique des processus (RCP) et des techniques avancées de détection et de correction des défauts pour garantir des résultats optimaux. Le logiciel comprend également des capacités intégrées d'archivage des données pour une référence future. VEECO/BRUKER WYKO NT3300 est conçu pour répondre aux exigences exigeantes de l'industrie des semi-conducteurs. De la caractérisation des appareils à l'optimisation des processus, l'outil est idéal pour toute application nécessitant une métrologie précise et fiable. L'actif est construit pour répondre aux normes les plus élevées de l'industrie des semi-conducteurs, ce qui en fait un outil précieux pour l'ingénierie avancée et les processus de fabrication nécessaires pour assurer des performances fiables du produit.
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