Occasion VEECO / DEKTAK 3 #293762408 à vendre en France

Les équipements d'essai et de métrologie VEECO/DIKTAK VEECO/DEKTAK 3 sont conçus pour la mesure de précision et la caractérisation des dispositifs semi-conducteurs avancés de micro et nanotechnologie. Le système combine inspection optique haute résolution et métrologie avec une unité d'analyse de micro-image avancée pour fournir la plus grande précision et précision dans la caractérisation des plaquettes. VEECO 3 dispose d'un profilomètre optique automatisé amélioré permettant un meilleur niveau de précision, de précision et de répétabilité. Il utilise une machine d'analyse d'image numérique avancée pour détecter et caractériser les caractéristiques sur les plaquettes jusqu'à 10nm niveaux. L'outil aide à fournir une analyse rapide et automatisée des motifs et des défauts jusqu'à la résolution nanométrique. Il soutient la caractérisation multiforme des plaquettes simples et des grandes surfaces sur la plaquette. DEKTAK 3 est un atout polyvalent offrant la flexibilité de s'adapter à différents types de dispositifs semi-conducteurs et optoélectroniques. Il propose des algorithmes de mesure entièrement personnalisables, permettant la présentation et l'analyse des données en fonction des besoins du client. Le modèle offre également des capacités avancées de caractérisation de la température, allant de la température ambiante aux mesures de haute température. L'équipement DEKTAK/DIKTAK 3 fournit une large gamme de caractéristiques pour la caractérisation des structures, y compris la reconnaissance avancée des caractéristiques, la spectroscopie, la lithographie par faisceau d'électrons, les études de contamination de surface et l'extraction de paramètres. Il dispose d'une optique avancée pour l'imagerie et la mesure précises et de techniques avancées de traitement du signal pour minimiser le bruit et les artefacts de bruit. L'architecture du système permet un haut degré d'intégration avec d'autres systèmes, permettant aux utilisateurs d'accéder à des données supplémentaires provenant de sources externes. En outre, VEECO/DEKTAK 3 est équipé d'un puissant logiciel d'acquisition et d'analyse de données, permettant une automatisation avancée des systèmes. Le logiciel offre un large éventail de fonctionnalités, y compris l'affichage de données en temps réel, le contrôle automatisé de paramètres multiples, l'analyse de données, et le reporting personnalisable. Les données générées par l'unité peuvent être exportées vers les normes de l'industrie et facilement intégrées dans des logiciels tiers. VEECO 3 est un excellent outil pour les laboratoires de recherche sur les dispositifs semi-conducteurs ainsi que pour les lignes de production. Il fournit un processus de caractérisation précis et fiable ainsi qu'un produit livrable qui répond aux spécifications de toutes les normes industrielles connues. La conception compacte de la machine garantit une faible empreinte et une configuration et un fonctionnement faciles. DEKTAK 3 est la solution idéale pour la caractérisation et le test de production des dispositifs semi-conducteurs et optoélectroniques avancés.