Occasion VEECO / DEKTAK 8000 #9328743 à vendre en France

VEECO/DEKTAK 8000 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir une mesure précise des caractéristiques électriques des dispositifs et matériaux semi-conducteurs. Il offre des solutions intégrées de test de haute précision et de métrologie pour optimiser les rendements des procédés et l'efficacité de fabrication. VEECO 8000 utilise une technologie avancée d'analyse nanométrique et d'imagerie pour effectuer des mesures non destructives à la volée de surfaces modelées. Il a intégré la force de rétroaction de précision pour une meilleure résolution, des lectures plus précises, et un débit plus rapide. Ce système offre des résultats de meilleure qualité, un meilleur rendement des produits et un moindre coût. L'étage motorisé intégré permet un positionnement précis de l'échantillon à 0,05 microns près. La fonction de cartographie de substrat configurable intégrée et la capacité d'alignement automatique mettent DEKTAK 8000 à l'écart des autres systèmes. La grande surface d'étage (400 x 400 mm) peut accueillir différentes tailles de plaquettes, et les options d'assemblage de porte-plaquettes offrent diverses approches pour la production et l'automatisation de haut débit. Les éléments optiques à base de réfraction à l'intérieur de l'unité permettent l'imagerie de 0,07 µm à > 400 µm. La portée de vision est facilitée par la possibilité de visualiser la topographie de surface de l'échantillon à des hauteurs différentes, et par rapport à deux axes optiques. Ces mesures permettent de détecter l'intégrité de surface des couches métalliques et diélectriques. 8000 offre également une variété de capacités d'imagerie, y compris des études chronologiques et la microscopie confocale. Le logiciel intégré fournit une analyse des données de mesure en temps réel, permettant un contrôle statistique concis des processus pour améliorer le suivi et la performance des processus. Dans l'ensemble, VEECO/DEKTAK 8000 est une machine intégrée d'essai et de métrologie de plaquettes offrant une mesure de haute précision des caractéristiques électriques des dispositifs et matériaux semi-conducteurs. Il comporte un alignement automatisé et un étage motorisé, une résolution optique de 0,07 µm à > 400 µm et des capacités d'imagerie avancées pour déterminer l'intégrité de la surface. Le logiciel intégré fournit également une analyse en temps réel des données pour améliorer le suivi et la performance des processus.