Occasion VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension VX 340 #9283468 à vendre en France

INSTRUMENTS VEECO/DIGITAL Dimension VX 340 Wafer Testing and Metrology Equipment est une plate-forme avancée d'inspection et de métrologie monobloc utilisée dans l'industrie des semi-conducteurs. Ce système utilise les dernières avancées technologiques pour assurer le plus haut niveau de précision et de précision dans la mesure, l'inspection et la caractérisation des surfaces des plaquettes. L'unité VEECO Dimension VX 340 utilise une combinaison de balayage et de microscopie optique pour fournir des vues magnifiées de la plaquette à partir d'un large éventail de perspectives. Ces données peuvent ensuite être utilisées pour mesurer avec précision les dimensions physiques et la géométrie du dispositif, ce qui permet à l'utilisateur de confirmer des spécifications critiques qui définissent les performances du produit final. INSTRUMENTS NUMÉRIQUES La dimension VX 340 utilise des techniques avancées d'imagerie, de métrologie optique et spectroscopique pour caractériser les propriétés physiques et chimiques des processus de surface des plaquettes. Il dispose de deux systèmes optiques et d'imagerie complémentaires, fournissant une plate-forme flexible et intégrée pour analyser une variété de surfaces de plaquettes. La machine possède également une région d'imagerie CCD à haut débit qui permet de caractériser en surface et en film des zones plus grandes d'une plaquette. La dimension VX 340 est capable de caractériser les valeurs quantitatives associées aux processus de surface des plaques en utilisant une grande variété de techniques, y compris la profilométrie de surface, l'ellipsométrie, la spectroscopie de réflectance, la spectroscopie IR, la spectroscopie Raman et la microscopie à force atomique (AFM). Ces données peuvent ensuite être utilisées pour évaluer la qualité des produits, examiner l'impact des conditions de traitement, modéliser les surfaces pour la conception et l'optimisation, et plus encore. L'outil peut également effectuer un post-traitement sur la plaquette comme l'extraction de données de fonctionnalités, l'analyse d'images et la caractérisation de processus. L'actif comprend un logiciel intégré qui permet une analyse facile des données et un examen des résultats. Cela élimine la nécessité d'une analyse manuelle des données et offre un moyen plus efficace et précis de gérer les processus critiques de métrologie des plaquettes. Le modèle est conçu pour fournir des résultats précis et fiables pour de multiples applications de métrologie dans un large éventail d'industries. Sa conception robuste et ses applications polyvalentes en font un choix idéal pour évaluer et traiter une variété de surfaces de plaquettes dans une variété d'applications.