Occasion VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS VX 200 #9063652 à vendre en France

ID: 9063652
Atomic force profiler Model No.: DUVx200 Mode: tapping Scan area: ~70um 2003 vintage.
L'équipement VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS VX 200 Wafer Testing and Metrology fournit une technologie moderne et puissante pour le test et la métrologie des plaquettes semi-conductrices. Avec son design innovant, le système VEECO VX 200 est capable d'un débit et d'une précision élevés et peut traiter une large gamme de mesures telles que la tension, optique, électrique et mécanique. INSTRUMENTS NUMÉRIQUES L'unité VX 200 dispose d'une machine d'imagerie optique intégrée - qui peut prendre des images de plaquettes jusqu'à 19,1 pouces - et d'un étage de mesure réglable, permettant une analyse précise, précise et répétable des plaquettes dans les modes sans contact et sans contact. L'outil optique est également équipé d'une fonction de fente et de balayage qui fournit des données de mesure chromatique précises et détaillées aux coordonnées choisies. De plus, le Spectroscopic Reflection Microscope (SRM) de VX 200 offre des caractéristiques fiables telles que l'imagerie transversale et le profilage d'épaisseur. Pour les mesures électriques, VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS VX 200 actif comprend une station de test électrique dédiée conçue pour tester des diodes et des dispositifs ou pour effectuer des mesures d'impédance rapides et précises. Grâce à un modèle amélioré de gestion de base de données, l'utilisateur peut enregistrer les données rapidement et avec précision. La station mécanique de VEECO VX 200 fournit des mesures de couple et de force sans contact, ainsi que des mesures dimensionnelles telles que l'entrefer et la profondeur. Cette station supporte également l'ensemble de montage de test pour automatiser les étapes de test, tandis que la station interférométrique laser est utilisée pour confirmer la linéarité, la planarité et la perpendicularité. La dernière génération de logiciels VEECO offre des fonctionnalités avancées telles que les mesures automatisées des écarts ; les mises en attente répétables ; exécution de programmes de tests multiples et essais de plaquettes. De plus, un équipement à haute vitesse permet d'augmenter le débit et les taux de transfert de données. Le contrôle amélioré du système fournit une interface de contrôle de puissance avancée qui peut être utilisée pour personnaliser les paramètres de test ou effectuer des essais à des vitesses ou des températures variables. Les utilisateurs peuvent également choisir parmi un large éventail de périphériques supplémentaires tels que consoles d'ordinateur, écrans LCD, scanners et logiciels pour répondre à leurs besoins spécifiques. INSTRUMENTS NUMÉRIQUES L'unité VX 200 fournit une solution de test et de mesure complète et intégrée pour le test et la métrologie des plaquettes semi-conductrices.
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