Occasion VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS VX 210 #9097586 à vendre en France

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS VX 210 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes de pointe conçu pour répondre aux applications les plus exigeantes dans le traitement des semi-conducteurs de pointe et la caractérisation des appareils. VEECO VX 210 est capable de fournir des mesures précises de topographie de surface, de caractéristiques électriques, optiques, thermiques et de contraintes de divers substrats. INSTRUMENTS NUMÉRIQUES VX 210 est équipé d'un microscope à balayage structurel intégré (SSM) qui est capable de fournir des images haute résolution d'une gamme de surfaces d'échantillons. Il dispose d'ensembles d'étages d'échantillons faciles à configurer, permettant un positionnement précis des substrats. En outre, VX 210 est construit avec un logiciel complet qui permet de capturer, d'analyser et de comparer des caractéristiques de surface telles que la rugosité de surface, la hauteur des marches, la taille des motifs et l'emplacement des motifs. Les capacités de métrologie électrique de VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS VX 210 le rendent idéal pour la caractérisation des structures des appareils et des interconnexions. Son système intégré de caractérisation électrique est capable de surveiller les réponses électriques complexes d'une gamme de structures d'essai et d'analyser des caractéristiques telles que la réponse en fréquence, l'impédance, le gain de tension et les fuites d'emballages. En outre, VEECO VX 210 dispose d'une large gamme de boîtiers de métrologie optique capables de mesurer la réflectivité optique, la transmission et l'absorption des échantillons. Enfin, DIGITAL INSTRUMENTS VX 210 dispose d'une sonde thermique triaxe innovante pour mesurer la résistance thermique de différents matériaux, ainsi que d'une unité de contrainte unique capable de surveiller la déformation de l'échantillon en temps réel. Les capacités de balayage tridimensionnelles du VX 210 en font une machine idéale pour des applications telles que les tests MEMS (microélectromécaniques) et le suivi du développement de processus physiques et chimiques. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS VX 210 wafer testing and metrology outil est la solution idéale pour répondre aux besoins les plus difficiles de caractérisation des semi-conducteurs. Sa vaste gamme de paquets de métrologie intégrés, combinée à ses capacités d'imagerie très précises et à ses fonctions de surveillance en temps réel, en font un outil puissant pour diverses tâches de métrologie avancées.