Occasion VEECO Profilometer #293671953 à vendre en France

VEECO ProFiler est un système de test et de métrologie de plaquettes conçu pour mesurer les paramètres des puces semi-conductrices haut de gamme, tels que la géométrie de surface, l'orientation cristallographique, la taille des défauts, le dopage et la profondeur. Utilisant les dernières technologies d'automatisation et d'imagerie numérique, le ProFiler offre une large gamme de capacités de métrologie aux niveaux de confort utilisateur les plus élevés. Le ProFiler permet une évaluation non destructive des plaquettes des puces les plus complexes aux structures MEMS simples. VEECO ProFiler utilise des sondes de balayage interchangeables qui sont suffisamment précises et sensibles pour détecter toute irrégularité dans les propriétés électriques, matérielles et physiques. ProFiler peut scanner jusqu'à 4 pouces et 6 pouces de plaquettes en utilisant la capacité brevetée de zoom à plusieurs pointeurs qui peut mesurer les paramètres à une résolution nanométrique. De plus, l'étage informatique X-Y intégré offre des performances entièrement automatisées avec MicronStep, une fonctionnalité qui réduit la complexité du mouvement non linéaire pendant les mesures. L'image numérique CCD de ProFiler dans l'émetteur utilise la lumière diffusée pour étudier les microstructures au lieu de cartographier les caractéristiques topographiques. Il peut être utilisé pour détecter des caractéristiques telles que des structures 3D nanométriques et des zones avec diffusion de la lumière due à des discontinuités électriques. Cela aide à distinguer rapidement et avec précision les structures adjacentes, les défauts et les défauts dans les mêmes limites. Cela aide à fournir des mesures précises pour la sonde (gravure) et la modification (texturation). L'interface conviviale de VEECO ProFiler dispose d'une interface utilisateur graphique intuitive (interface graphique graphique), permettant à l'utilisateur de configurer rapidement une mesure. Il comprend également des capacités complètes d'analyse des données, permettant aux utilisateurs d'étudier et d'évaluer les données collectées par le biais de tests de wafer. En résumé, VEECO ProFiler est un système d'essai et de métrologie de plaquettes très précis et sensible qui peut être utilisé pour mesurer les paramètres des puces semi-conductrices haut de gamme. Il utilise des sondes de balayage interchangeables, un étage contrôlé par ordinateur X-Y, une image numérique CCD dans l'émetteur, et une interface graphique conviviale pour fournir des mesures précises pour la sonde et la modification. De plus, le ProFiler comprend des capacités complètes d'analyse des données qui aident à étudier et à évaluer les données recueillies par le biais de tests de wafer.