Occasion VEECO / SLOAN DEKTAK 150 #293643666 à vendre en France

ID: 293643666
Surface profiler.
VEECO/SLOAN DEKTAK 150 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour mesurer les caractéristiques de surface des plaquettes semi-conductrices. Il est configuré pour une performance optimale dans l'inspection et la métrologie des générations actuelles et futures d'appareils intégrés. Le système est construit sur un étage de positionnement XYZ avec une course plus rigide, des roulements à faible frottement et une résolution de pas plus élevée permettant des mesures de précision. VEECO DEKTAK 150 utilise la conception optique avancée pour atteindre la plus haute résolution, avec la capacité de mesurer les fonctionnalités jusqu'à 1.5nm. La résolution supérieure est rendue possible en utilisant une plus grande quantité de lumière d'une source plus importante et en la recueillant grâce à une optique améliorée. Au cœur de SLOAN DEKTAK 150 se trouve son puissant logiciel intégré. Une variété de modules logiciels ont été développés pour permettre à l'unité de contrôler un large éventail de structures de test, avec de puissantes capacités de script pour permettre des tâches automatisées. Le logiciel peut même déterminer automatiquement le bord d'un échantillon, éliminant ainsi la nécessité de mesures manuelles fastidieuses. DEKTAK 150 est également livré avec une gamme d'accessoires, y compris un bras d'extension qui étend la gamme de balayage, des sondes, des contrôleurs d'E/S et des multi-mètres pour maximiser les performances. La machine VEECO/SLOAN DEKTAK 150 est également capable d'échantillonner jusqu'à 5 plaquettes simultanément, ce qui la rend idéale pour tester et analyser un grand nombre de plaquettes issues de la production. Il dispose d'un environnement automatisé qui permet des résultats précis et cohérents dans l'ensemble en fournissant un contrôle de la température et de l'humidité dans la chambre de métrologie. Les performances de VEECO DEKTAK 150 en font un outil impitoyable de détection et de caractérisation des défauts, permettant aux ingénieurs d'évaluer rapidement les surfaces des dispositifs pour leur uniformité et pour la présence de rayures et de corrosion. Il s'agit également d'un excellent outil d'évaluation de la résistance et de la fiabilité des plaquettes, car ses capacités de haute résolution permettent d'effectuer les mesures les plus précises sur une variété de processus. Dans l'ensemble, cet outil de test et de métrologie des plaquettes est une solution fiable et rentable pour l'évaluation des plaquettes semi-conductrices.
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