Occasion VEECO / SLOAN DEKTAK 150 #9281986 à vendre en France

ID: 9281986
Style Vintage: 2010
Profiler Missing / Damaged parts: Lifting mechanism Probe fixing device System controller Probe Host 2010 vintage.
VEECO/SLOAN DEKTAK 150 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour la fabrication de dispositifs semi-conducteurs. Le système fournit des mesures précises des caractéristiques de surface de la plaquette, telles que la position des bords, la topographie de surface et la rugosité de surface. Il peut mesurer des caractéristiques telles que des bosses, des puits et des marches, ainsi que des contaminants de surface. L'unité utilise une sonde de pointe de stylet pour scanner et mesurer des plaquettes d'échantillon. La sonde est fixée à un bras relié à un moteur linéaire. Ce moteur déplace le bras rotatif en réglant la position du stylet par rapport à la surface de la plaquette. La machine comporte également un outil de nivellement automatique qui facilite l'alignement précis de la sonde sur la plaquette. L'actif peut être configuré avec une variété de technologies de capteurs, y compris la capacité, l'interférométrie et les profilomètres optiques. Pour chaque type de capteur, le modèle comporte des franges optiques qui sont balayées par les pointes du stylet afin de mesurer la topographie de surface de la plaquette. Les fonctionnalités logicielles de VEECO DEKTAK 150 permettent de définir les paramètres de calibration et d'analyse de l'utilisateur. Il comprend également une interface de menu graphique conviviale avec des fonctions d'aide, ce qui facilite la navigation de l'équipement et l'accès à des fonctions spécifiques. De plus, le système fournit de puissantes capacités d'analyse de données avec la capacité de générer des rapports, des tableaux et des graphiques pour des études complètes de wafer. L'unité peut également enregistrer les données dans une variété de formats pour un stockage et un échange de données faciles. SLOAN DEKTAK 150 est une machine de test et de métrologie fiable et efficace. Il est largement utilisé dans les environnements de recherche et de production car il offre une acquisition rapide de données, une grande fiabilité et une précision supérieure dans les essais de métrologie. Les fonctionnalités automatisées de l'outil facilitent la réalisation de mesures précises de caractérisation des plaquettes rapidement et avec précision.
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