Occasion VEECO / SLOAN DEKTAK 3030 ST #9383773 à vendre en France

VEECO/SLOAN DEKTAK 3030 ST est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour la caractérisation précise des matériaux semi-conducteurs. Ce système est capable de mesures tridimensionnelles (3D) sans contact de plaquettes semi-conductrices avec une précision nanométrique. L'unité VEECO 3030ST utilise des sondes en stylet sans solvant, permettant des mesures fiables sur une large gamme de topologies et de caractéristiques de surface. SLOAN DEKTAK 3030ST est conçu avec une tête de balayage XYZ, permettant la cartographie 3D et la caractérisation des surfaces de plaquettes. La tête de balayage est équipée d'un algorithme de compensation nanomanipulative de pointe qui augmente la précision de la métrologie de la plaquette en assurant un contact bout-surface constant dans toute la gamme des surfaces étudiées. 3030ST utilise une machine de balayage en boucle fermée qui permet des mesures rapides et de haute précision avec une vitesse allant jusqu'à 10 mm/sec. VEECO/SLOAN DEKTAK 3030ST possède un certain nombre de fonctionnalités intégrées qui en font un outil de métrologie fiable pour diverses applications. Il s'agit notamment d'un interféromètre laser pour la métrologie de surface des sous-nanomètres, d'un élément d'éclairage latéral pour détecter et analyser les défauts de surface des plaquettes, et d'un étage entièrement motorisé pour le chargement et le déchargement automatisés des plaquettes. Les autres caractéristiques comprennent un régulateur de pression et un ensemble de jauge de contrainte pour mesurer la force de contact, une table porte-air pour assurer la stabilité pendant le balayage, et une suspension de tête réglable conforme pour réduire les vibrations. Le modèle VEECO DEKTAK 3030 ST est conforme à un certain nombre de protocoles et de normes de l'industrie. Cela inclut G46, E14 et MM17 pour des mesures de couches minces de haute précision, ainsi que FOB et BEETEK pour l'analyse des défauts latéraux. L'équipement est également conforme au logiciel de cartographie Wyko Wafer, permettant aux utilisateurs d'analyser les données de cartographie dans une variété de formats graphiques. SLOAN 3030ST est un système d'essai et de métrologie efficace et fiable conçu pour une gamme de protocoles de mesure et d'analyse. Cette unité est équipée de nombreuses fonctionnalités, permettant aux utilisateurs d'analyser les surfaces des plaquettes avec précision et précision au niveau du nanomètre. DEKTAK 3030 ST est conforme à une variété de normes de l'industrie, permettant aux utilisateurs d'accéder à une suite complète d'outils logiciels pour le traitement et l'analyse des données.