Occasion VEECO / SLOAN DEKTAK 3030 #9247712 à vendre en France

VEECO/SLOAN DEKTAK 3030 est un équipement polyvalent et avancé d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour répondre aux besoins de l'industrie des semi-conducteurs. Il est idéal pour la recherche et la caractérisation des plaquettes, des dispositifs MEMS et de diverses autres technologies. VEECO DEKTAK 3030 permet des tests de wafer et de métrologie grâce à une combinaison d'imagerie de surface multiple, de balayage de surface et de détection de profondeur, utilisant des algorithmes avancés pour obtenir une précision optimale. Il offre une topographie 3D, un balayage de surface 3D et des mesures de force de fluage pour les applications de microscopie de sonde à balayage (SPM). Le système utilise un profilomètre optique à longueur d'onde variable pour obtenir des images de wafers à haute résolution, avec une hauteur de pas maximale de 2 microns et une résolution de profondeur de 0,5 nanomètres. Le pic à la précision de vallée est de 1 nanomètre tandis que la résolution latérale est de 0,2 microns. De plus, SLOAN DEKTAK 3030 peut accueillir jusqu'à quatre plaquettes pour les tests et l'imagerie simultanée. DEKTAK 3030 dispose d'un étage 5 axes capable de balayer des plaquettes avec jusqu'à 5 mm de jeu vertical et une résolution horizontale de 0,15 nanomètre. L'étape d'échantillonnage peut également gérer différentes tailles d'échantillons au cours d'essais uniques. VEECO/SLOAN DEKTAK 3030 dispose également d'un logiciel d'imagerie avancé hautement personnalisable pour répondre aux exigences spécifiques d'une variété d'applications. Le logiciel fournit des capacités complètes de traitement d'image et peut être configuré pour déclarer automatiquement les résultats selon des critères définis par l'utilisateur. Cela permet une analyse comparative entre les différentes images et aide à repérer les défauts. L'unité dispose également de sondes spécialisées en microscopie à force de balayage (SFM) qui peuvent mesurer un large éventail de forces, y compris les forces de contact, de cantilever et de fluage. Ceci permet de caractériser les propriétés des matériaux au niveau du nanomètre. La machine est équipée d'un logiciel d'analyse de la force de cantilever par rapport aux courbes de déplacement, qui permet de mesurer directement les propriétés des matériaux tels que le module d'Young et la dureté. L'outil VEECO DEKTAK 3030 est un outil puissant pour l'industrie des semi-conducteurs qui peut fournir une étude détaillée d'une large gamme de matériaux et de profils de surface. Il offre des capacités d'imagerie avancées et d'analyse des propriétés des matériaux pour aider au développement et à la caractérisation des plaquettes, des dispositifs MEMS et d'autres technologies.