Occasion VEECO / SLOAN DEKTAK 3ST #293817112 à vendre en France

VEECO/SLOAN DEKTAK 3ST est un équipement avancé d'essai et de métrologie de plaquettes qui utilise la technologie d'imagerie optique de pointe pour mesurer et analyser des plaquettes à semi-conducteurs et d'autres microstructures. VEECO DEKTAK 3ST offre une plateforme modulaire permettant à l'utilisateur de personnaliser le système pour ses besoins et applications individuels. SLOAN DEKTAK 3 ST utilise une combinaison de techniques de sondes optiques et tactiles de haute précision, ainsi que des capacités d'imagerie de méta-matériaux in situ, pour produire des résultats détaillés de test de plaquettes. Les techniques de sondes optiques de haute précision mesurent la forme tridimensionnelle (3D) des cellules, des analytes et des specks. Le contrôle fin des sondes optiques permet à l'utilisateur de mesurer avec précision même les moindres détails. Cela permet des mesures rapides, très précises et reproductibles de structures multiples sur chaque plaquette ou microstructure semi-conductrice. Le contrôle fin des sondes optiques élimine également tout besoin de corrections ou modifications manuelles de profil. VEECO DEKTAK 3 ST utilise une technique de balayage x/y/z capable de scanner différents substrats tels que les substrats saphir, les métaux et les polymères, avec un haut niveau de résolution et de précision. SLOAN DEKTAK 3ST offre également la capacité de mesurer la résistivité électrique sur les plaquettes semi-conductrices. Cette combinaison avec les capacités d'imagerie méta-matière in situ fournit à l'utilisateur une caractérisation complète et une analyse de production des plaquettes semi-conductrices et d'autres microstructures. VEECO/SLOAN DEKTAK 3 ST est une unité conviviale, avec une interface utilisateur graphique permettant à l'utilisateur de configurer facilement la machine pour son application spécifique. L'interface conviviale permet l'analyse simultanée de plusieurs plaquettes et peut également être utilisée pour mesurer les caractéristiques de test et vérifier les irrégularités dans les processus de production. Dans l'ensemble, DEKTAK 3ST est un outil avancé de test et de métrologie des plaquettes qui permet aux utilisateurs d'analyser rapidement et avec précision une variété de plaquettes et de microstructures à semi-conducteurs. Avec sa combinaison de sondes optiques de haute précision, de méta-matériaux in situ et de numérisation x/y/z, DEKTAK 3 ST offre à l'utilisateur des capacités de caractérisation et d'analyse de production polyvalentes. L'interface graphique conviviale permet une configuration et un fonctionnement faciles, faisant de VEECO/SLOAN DEKTAK 3ST un ajout précieux à toute application de semi-conducteurs ou de microstructures.