Occasion VEECO / SLOAN DEKTAK 3ST #9192102 à vendre en France

VEECO/SLOAN DEKTAK 3ST est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe développé avec des caractéristiques techniques immersives qui fournissent précision et précision dans l'analyse des wafers. Il dispose d'une vaste gamme de capacités de mesure avancées pour des applications avancées de test de plaquettes et de métrologie. En commençant par le matériel, VEECO DEKTAK 3ST dispose de la tête de jauge haute résolution VEECO haute résolution pour la précision et la précision. Il est conçu avec une plate-forme modulaire qui comprend un étage Z motorisé de haute précision et haute précision pour le mouvement des échantillons. La tête de gage et l'étage Z sont reliés au contrôleur de gage qui est géré par une interface utilisateur graphique puissante. SLOAN DEKTAK 3 ST dispose également de capacités de mesure avancées comme la reconnaissance automatisée des fonctionnalités et la vitesse de balayage rapide pour des caractérisations précises. Il est capable de détecter la topographie avec des hauteurs de pas aussi bas que 10nm et dispose d'une excellente linéarité et plage dynamique. La technologie brevetée Advanced Endpoint Detection (AED) du système permet de localiser avec précision la forme de l'échantillon au point final de chaque séance de balayage. DEKTAK 3 ST fournit également une précision d'étalonnage Z-axis améliorée, assurant des résultats d'essai plus cohérents et fiables. L'unité offre également une variété d'options en fonction des besoins de l'application. Il offre des capacités de microscopie acoustique optique et de balayage à haute résolution, ce qui le rend idéal pour la caractérisation avancée des appareils, les mesures 3D de surface et l'analyse des défauts. Il est également conçu avec isolation à faible vibration pour fournir une stabilité de données haute performance. En termes de logiciels, VEECO DEKTAK 3 ST dispose d'une gamme complète d'utilitaires logiciels qui fournissent des fonctionnalités d'analyse, de stockage de données et de reporting. Le logiciel comprend l'imagerie 3D, le piquage automatique des cartes de plaquettes, la reconnaissance automatique des motifs et les programmes d'analyse des défauts qui profitent du matériel puissant de la machine. L'outil permet d'analyser les hauteurs des gradins, la topographie et l'homogénéité des surfaces, la contrainte du film, la poussière et d'autres caractéristiques. Le logiciel comprend également des outils de stockage de données et de rapport pour enregistrer les résultats des tests. Dans l'ensemble, DEKTAK 3ST est un outil de test et de métrologie de wafer avancé qui offre une analyse précise et précise des wafers. Il dispose d'une tête de jauge haute résolution, d'un étage Z motorisé et d'une suite logicielle complète pour le stockage, l'analyse et le reporting de données. VEECO/SLOAN DEKTAK 3 ST est un atout inestimable pour des applications de haute performance nécessitant des données fiables et une caractérisation précise des géométries des appareils.