Occasion VEECO / SLOAN DEKTAK 8 #9298939 à vendre en France

L'équipement VEECO/SLOAN DEKTAK 8 Wafer Testing and Metrology est un outil précieux utilisé dans le test et l'analyse des wafers pour l'inspection et l'assurance de la qualité. Ce système utilise la technologie de microscopie à balayage tunnel (STM) afin de produire des mesures très précises de la surface d'une plaquette. Avec un étage 3 axes, haute résolution et des systèmes optiques et numériques supérieurs, cette unité offre une analyse de surface répétable avec un haut niveau de précision. L'objectif principal de la machine VEECO DEKTAK 8 est de mesurer et d'analyser la topographie de surface d'une plaquette, d'identifier les défauts et les tendances de défauts, et de retracer les défauts d'une plaquette à l'ensemble de la production. L'outil mesure la topographie de surface d'une plaquette de 10nm à 420nm en utilisant des mesures tridimensionnelles. L'actif peut mesurer un large éventail de paramètres tels que l'épaisseur, la planéité de la surface et les caractéristiques de surface surélevée et piquée. Il offre également une analyse critique de la géométrie du profil, de la rugosité de la surface et des caractéristiques de la structure telles que les fosses, les bosses et les tranchées. Afin d'assurer des résultats précis, le modèle offre une variété de techniques de balayage, y compris le balayage SPM sur les systèmes de caméra disponibles, le balayage d'oscillation, le tracé X-Y et les mesures de profil de dommages résiduels. En outre, SLOAN DEKTAK 8 comprend diverses techniques de traitement de données qui analysent les données collectées avec l'équipement afin de soutenir et d'augmenter encore la précision du système. L'unité offre une gamme de fonctionnalités avancées, telles qu'une machine de mouvement haute performance avec la technologie d'autofocus à faible vitesse et la réduction des vibrations. En outre, il offre une variété de caméras microscopiques et de systèmes optiques incluant une variable qui permet à l'utilisateur de choisir entre la réflexion, la transmission ou les deux pour une qualité d'image optimale. De plus, le logiciel d'interfaçage intégré permet aux utilisateurs de se connecter à divers instruments externes, y compris des logiciels d'analyse de données, tels que les logiciels de mesure de la taille des particules, d'imagerie CCD, de cartographie laser et de profilage de faisceaux. L'outil de test et de métrologie des plaquettes DEKTAK 8 offre aux utilisateurs un moyen puissant et efficace d'évaluer la qualité des plaquettes et d'identifier et d'analyser les défauts. Cet atout unique permet des mesures précises et répétées avec une excellente précision, et il comprend des fonctionnalités avancées qui rationalisent et améliorent les processus de flux de travail. Ce modèle est parfait pour les applications dans l'industrie des semi-conducteurs, et sa précision et sa fiabilité en font un chef de file dans l'industrie.