Occasion VEECO / SLOAN DEKTAK I #139298 à vendre en France

L'équipement VEECO/SLOAN DEKTAK I d'essai de plaquettes et de métrologie est un système complet de métrologie de surface avec une large gamme de capacités. Il est conçu pour mesurer la topographie de surface et l'épaisseur d'un échantillon à haute résolution. L'unité est équipée d'une vaste gamme de porte-échantillons qui permettent l'utilisation de divers échantillons, y compris des échantillons monocouches et multicouches. La machine VEECO DEKTAK I utilise un étage X/Y de positionnement moteur programmable intégré qui contrôle la position de l'échantillon dans la tête de métrologie. La tête de métrologie peut être configurée pour une variété de mesures, comme un étage d'inclinaison à quatre axes pour les balayages de surface à large portée ou un seul axe pour les mesures focalisées. L'outil peut également mesurer des échantillons à une résolution de 5 nm et mieux en mode latéral, et jusqu'à 0,5 µm en mode vertical. SLOAN DEKTAK I actif est équipé d'une variété d'outils logiciels qui permettent à l'utilisateur de visualiser et d'analyser des images, ainsi que de créer des rapports. Le logiciel est très convivial et offre une interface utilisateur intuitive. Le logiciel comprend des fonctions pour calculer des caractéristiques de profil telles que la hauteur du pas, la rugosité de surface, la planéité, et peut produire des balayages de profil, ainsi que des cartes topographiques et d'épaisseur. Le modèle DEKTAK I est une solution idéale pour les applications à haut débit et sensibles aux coûts, telles que les MEMS/IC, les circuits intégrés, les matériaux et dispositifs connexes, les échantillons d'affichage à écran plat et l'optique. Sa taille compacte et son fonctionnement silencieux en font un choix idéal pour les laboratoires où l'espace est limité. Dans l'ensemble, VEECO/SLOAN DEKTAK I est une excellente option pour les essais de plaquettes et la métrologie. Sa conception robuste, ses capacités de mesure précises et son logiciel convivial en font un choix idéal pour la mesure de surfaces d'échantillons complexes.