Occasion VEECO / SLOAN DEKTAK I #9018952 à vendre en France

VEECO/SLOAN DEKTAK I est un équipement d'essai et de métrologie avancé conçu pour le profilage et l'analyse de topographie de surface ultra-précis. Le système est capable de mesurer un large éventail de caractéristiques géométriques des plaquettes semi-conductrices, y compris le diamètre, la planéité/planéité, la rugosité de surface, ainsi que d'autres métrologie telles que la hauteur, la profondeur et les dimensions critiques. VEECO DEKTAK I utilise une sonde capacitive qui est précisément alignée avec une table x-y commandée par moteur afin de déplacer la sonde le long de la topographie de l'échantillon. Cela permet à l'unité de mesurer avec précision et de scanner la surface de la plaquette avec une grande précision. La machine est livrée avec une interface graphique qui permet à l'utilisateur de surveiller et de contrôler interactivement le fonctionnement de l'outil. Il dispose également d'un codeur optique qui fournit une rétroaction pour assurer la précision pendant le processus de balayage. De plus, un adaptateur permet d'interfacer l'actif avec une variété d'instruments et de périphériques externes. Le modèle comprend également diverses corrections intégrées et un positionnement automatisé ainsi que des chemins de balayage optimisés pour capturer la résolution maximale de la surface de la plaquette. SLOAN DEKTAK I fournit également à l'utilisateur des outils d'analyse graphique avancés pour permettre une analyse plus poussée des données enregistrées. Ces outils peuvent être utilisés pour créer des cartes topographiques de surface détaillées, des vues de surface 3D et d'autres profils géométriques de la surface de la plaquette. Dans l'ensemble, DEKTAK I est un équipement avancé d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir des mesures et une analyse précises des plaquettes semi-conductrices. Le système est capable de capturer et d'analyser un large éventail de caractéristiques géométriques de la surface de l'échantillon, et dispose d'outils d'analyse graphique avancés pour permettre à l'utilisateur d'analyser plus en profondeur les données. De plus, l'unité est conçue pour simplifier le fonctionnement et assurer une détection et un balayage précis de la surface de la plaquette.