Occasion VEECO / SLOAN DEKTAK II #293831034 à vendre en France

VEECO/SLOAN DEKTAK II est un système avancé d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour l'analyse de divers matériaux semi-conducteurs, tels que le silicium, l'arséniure de gallium, et plus encore. L'unité est capable d'effectuer un large éventail de mesures, telles que l'épaisseur et le profil de surface, la planéité des plaquettes, la résistivité et le profilage de profondeur. VEECO DEKTAK II est livré avec un micro-profilé optique à base optique qui permet des mesures verticales et latérales précises avec une résolution minimale de retournement inférieure à 0,1 micron. Sa technologie de stylet brevetée et son déflectionarme sans balais permettent une répétabilité et une précision supérieures, ce qui le rend idéal pour les procédés industriels et les mesures précises. Il dispose également d'un scanner laser haute vitesse pour des mesures précises de topographie et d'épaisseur étendue. Ce scanner laser suit la plaquette du côté au lieu de l'avant, réduisant le potentiel de non-uniformité. SLOAN DEKTAK II dispose également d'un poste de travail intégré à température contrôlée, éliminant le temps d'installation de l'utilisateur et permettant la mesure des structures nanométriques. L'interface utilisateur intuitive de DEKTAK II permet un apprentissage rapide et un fonctionnement facile. Il comprend une interface PS2/USB pour le transfert et le stockage de données pratiques, ainsi qu'une variété d'options logicielles qui permettent de personnaliser les paramètres du système de mesure. Il comprend également plusieurs options linguistiques, gratuites, rendant le système vraiment global dans la nature. VEECO/SLOAN DEKTAK II fournit une analyse complète dans différents modes de test, y compris la hauteur des marches, la rugosité, la planéité, le décollage et la pente. L'analyse des données est effectuée de manière efficace et fiable, grâce à de nombreuses fonctionnalités avancées telles que le balayage laser rapide avec une précision de 2 microns pour la hauteur du pas, 4 microns pour la rugosité et une mesure de surface étendue jusqu'à 500 microns. Dans l'ensemble, VEECO DEKTAK II représente un progrès technologique remarquable dans les essais de wafer et la métrologie. Ses capacités avancées et robustes, combinées à son interface utilisateur intuitive, en font l'une des solutions d'analyse les plus fiables et rentables sur le marché aujourd'hui.